[发明专利]一种硅基OLED面板点亮检查方法

说明书

本申请涉及一种硅基OLED面板点亮检查方法，包括步骤：S1：提供一种硅基OLED面板点亮检查装置，包含外罩，以及设置于所述外罩内的吸附台、探针卡匣、压接工作台和探针取放机构；S2：加载硅基OLED面板于所述吸附台上；S3：纯化外罩内的惰性气体，使得所述外罩形成充满惰性气体的密闭腔体；S4：驱动所述吸附台移动至所述压接工作台并完成压接和点灯检测。本发明能够实现全过程自动化地对硅基OLED进行检查；具有可替换的探针组，对不同型号的硅基OLED进行检查，具有广泛的通用性。

技术领域

本申请属于半导体检测技术领域，尤其是涉及一种硅基OLED面板点亮检查方法。

背景技术

随着VRVirtual Reality，虚拟现实和ARAugmented Reality，增强现实技术的应用，高像素密度的微型显示器的市场需求也越随之产生，其中硅基micro OLED显示器为常用的高像素密度的微型显示器之一。因VR和AR技术为较为新兴的技术，其使用的硅基microOLED等微信显示器也处于技术初期阶段，针对硅基micro OLED显示屏的显示品质检测也相对较少，目前尚未出现针对硅基micro OLED显示器的检测设备；基于对硅基micro OLED显示器的品质要求，亟待研发一种针对硅基micro OLED显示器的检测设备及提供相应的检测方法。

发明内容

本发明要解决的技术问题是：为解决现有技术中硅基OLED检查的困难，从而提供一种硅基OLED面板点亮检查方法。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：一种硅基OLED面板点亮检查方法，包括步骤：

S1：提供一种硅基OLED面板点亮检查装置，包含外罩，以及设置于所述外罩内的吸附台、探针卡匣、压接工作台和探针取放机构；

S2：加载硅基OLED面板于所述吸附台上；

S3：纯化外罩内的惰性气体，使得所述外罩形成充满惰性气体的密闭腔体。

S4：驱动所述吸附台移动至所述压接工作台并完成压接和点灯检测。

优选地，本发明的硅基OLED面板点亮检查方法，所述步骤S2包含步骤：

S21：驱动所述吸附台吸附所述硅基OLED面板，使得所述硅基OLED面板的制程面向下；

S22：对所述硅基OLED面板对位。

优选地，本发明的硅基OLED面板点亮检查方法，所述步骤S3包含向所述外罩内充入惰性气体及去除非惰性气体的步骤。

优选地，本发明的硅基OLED面板点亮检查方法，所述步骤S4包含步骤：

S41：驱动所述吸附台移动至所述压接工位上方并下压，将产品与探针压接导通；

S42：点亮所述硅基OLED面板，并对所述硅基OLED面板的检测画面拍照。

优选地，本发明的硅基OLED面板点亮检查方法，所述步骤S41还包含步骤：调整所述压接工位的水平度。

优选地，本发明的硅基OLED面板点亮检查方法，所述步骤S41还包含步骤：将所述探针卡匣内的探针与所述压接工位上的探针进行切换。

优选地，本发明的硅基OLED面板点亮检查方法，所述切换探针的步骤还包含：驱动所述探针卡匣上升或下降，选取所述探针卡匣内与所述硅基OLED面板匹配的探针，并与所述压接工位上的探针进行切换。

优选地，本发明的硅基OLED面板点亮检查方法，所述步骤S42还包含步骤：储存拍摄的检测画面的图像。

优选地，本发明的硅基OLED面板点亮检查方法，所述步骤S42还包含步骤：对拍摄的图像进行算法处理。