[发明专利]一种硅基OLED面板点亮检查方法在审
| 申请号： | 201911007019.8 | 申请日： | 2019-10-22 |
| 公开（公告）号： | CN110579492A | 公开（公告）日： | 2019-12-17 |
| 发明（设计）人： | 朱志飞 | 申请（专利权）人： | 苏州精濑光电有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/95 | 分类号： | G01N21/95;G01N21/956;G01N21/01;G01M11/02 |
| 代理公司： | 32299 苏州知途知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人： | 陈瑞泷 |
| 地址： | 215100 江苏省苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 硅基 外罩 压接 惰性气体 吸附台 工作台 点亮检查装置 点亮检查 密闭腔体 取放机构 可替换 探针卡 探针组 点灯 加载 探针 吸附 检查 自动化 驱动 检测 移动 申请 | ||
1.一种硅基OLED面板点亮检查方法，其特征在于，包括步骤：
S1：提供一种硅基OLED面板点亮检查装置，包含外罩(1)，以及设置于所述外罩(1)内的吸附台(2)、探针卡匣(3)、压接工作台(4)和探针取放机构(5)；
S2：加载硅基OLED面板于所述吸附台(2)上；
S3：纯化外罩(1)内的惰性气体，使得所述外罩(1)形成充满惰性气体的密闭腔体；
S4：驱动所述吸附台(2)移动至所述压接工作台(4)并完成压接和点灯检测。
2.根据权利要求1所述的硅基OLED面板点亮检查方法，其特征在于，所述步骤S2包含步骤：
S21：驱动所述吸附台(2)吸附所述硅基OLED面板，使得所述硅基OLED面板的制程面向下；
S22：对所述硅基OLED面板对位。
3.根据权利要求1所述的硅基OLED面板点亮检查方法，其特征在于，所述步骤S3包含向所述外罩(1)内充入惰性气体及去除非惰性气体的步骤。
4.根据权利要求1所述的硅基OLED面板点亮检查方法，其特征在于，所述步骤S4包含步骤：
S41：驱动所述吸附台(2)移动至所述压接工位(4)上方并下压，将产品与探针压接导通；
S42：点亮所述硅基OLED面板，并对所述硅基OLED面板的检测画面拍照。
5.根据权利要求4所述的硅基OLED面板点亮检查方法，其特征在于，所述步骤S41还包含步骤：调整所述压接工位(4)的水平度。
6.根据权利要求4所述的硅基OLED面板点亮检查方法，其特征在于，所述步骤S41还包含步骤：将所述探针卡匣(3)内的探针与所述压接工位(4)上的探针进行切换。
7.根据权利要求6所述的硅基OLED面板点亮检查方法，其特征在于，所述切换探针的步骤还包含：驱动所述探针卡匣(3)上升或下降，选取所述探针卡匣(3)内与所述硅基OLED面板匹配的探针，并与所述压接工位(4)上的探针进行切换。
8.根据权利要求4所述的硅基OLED面板点亮检查方法，其特征在于，所述步骤S42还包含步骤：储存拍摄的检测画面的图像。
9.根据权利要求4-8任一项所述的硅基OLED面板点亮检查方法，其特征在于，所述步骤S42还包含步骤：对拍摄的图像进行算法处理。
10.根据权利要求4-9任一项所述的硅基OLED面板点亮检查方法，其特征在于，所述步骤S4还包含步骤S43：分析图像缺陷并储存缺陷图像。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于苏州精濑光电有限公司，未经苏州精濑光电有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201911007019.8/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种建筑渗水检测方法
- 下一篇：一种容器视觉检测方法
