[发明专利]透光性器件检测系统

说明书

本发明提供了一种透光性器件检测系统，包括托盘、摄像组件和光源组件，托盘包括呈平面的承载面，承载面用于承载透光性器件，光源组件包括第一光源和第二光源，第一光源朝向承载面发射垂直的第一光线，第二光源朝向承载面发射倾斜的第二光线，第一光线和第二光线在透光性器件上反射，摄像组件接收透光性器件反射的光线而形成图像，根据图像检测透光性器件的缺陷。通过采用第二光源作为补偿光源，增加倾斜于待测的透光性器件的第二光线，从而使得发生在透光性器件的漫反射更多，使得透光性器件的内部以及表面缺陷显现出来。

技术领域

本发明属于光学成像的检测领域，尤其涉及一种透光性器件检测系统。

背景技术

随着社会的发展，彩色滤光片的市场也越来越大，比如手机摄像头模组，数码相机，液晶显示器，车载系统，电脑摄像头，视频电话等彩色显示电器都离不开彩色滤光片，因此对于彩色滤光片的品质把控也越来越重要。

目前，滤光片供应商出厂检测/公司检测滤光片的方法为：日光源配合X20倍放大率的显微镜，在肉眼条件下观察滤光片的表面形貌。

若使用现有检测滤光片的方法，许多内部结构及镀膜缺陷难以判断，另外上述方法也无法同时检测滤光片的正面、反面以及内部。

发明内容

本发明的目的是提供一种透光性器件检测系统，解决上述传统的透光性器件检测方法的技术问题。

为实现本发明的目的，本发明提供了如下的技术方案：

本发明提供了一种透光性器件检测系统，包括托盘、摄像组件和光源组件，所述托盘包括呈平面的承载面，所述承载面用于承载透光性器件，所述光源组件包括第一光源和第二光源，所述第一光源朝向所述承载面发射垂直的第一光线，所述第二光源朝向所述承载面发射倾斜的第二光线，所述第一光线和所述第二光线在所述透光性器件上反射，所述摄像组件接收所述透光性器件反射的光线而形成图像，根据所述图像检测所述透光性器件的缺陷。

通过采用第二光源作为补偿光源，增加倾斜于待测的透光性器件的第二光线，从而使得发生在透光性器件的漫反射更多，使得透光性器件的内部以及表面缺陷显现出来。

其中，所述承载面上设有镀膜层，所述承载面为硅材质，所述镀膜层为氮化硅材质。通过在硅材质的承载面上镀有黑色的、吸光能力强的氮化硅薄膜，使得光源组件发出的、透过透光性器件的光线能够被吸收，减少了光线反射、散射干扰，增加了检测的精密度。

其中，所述承载面上设有多个凸起，所述透光性器件的两端分别搭载在相邻的两个所述凸起上，以使所述透光性器件与所述承载面具有第一间隔距离。通过在承载面上设置多个凸起，有利于承载面更好地吸收多余光线。同时设置第一间隔距离，承载面能够进行二次吸收(光源组件发射的光线通过透光性器件但承载面未吸收完的，剩余光线将反射至透光性器件，然后再次反射回来)。

其中，所述凸起呈“凸”字形而形成台阶结构，所述透光性器件设置在所述台阶结构上。通过将透光性器件放置在凸起中部的台阶结构，减少了外部光源的干扰，以减少检测误差。

其中，所述第一间隔距离为0.1～1mm。合理设置透光性器件与承载面的第一间隔距离，增强承载面的吸光能力，同时排除外部光线的干扰，减少了检测误差。

其中，所述第一光源和所述第二光源均为环形，所述第二光源围合形成第一空间，所述第一空间用于容置所述第一光源，所述第一光源围合形成第二空间，所述摄像组件通过所述第二空间拍摄所述透光性器件的图像。合理设置第一光源和第二光源的结构，使得第一光线和第二光线的光线强度得以有效叠加，使得抵达透光性器件的光线的范围以及强度符合检测的要求。

其中，所述第一光源包括红、绿和蓝三个发光部，所述三个发光部用于调节所述第一光源发出的光线颜色。通过在第一光源上设置上述的三个发光部，从而可以检测透光性器件在不同颜色下的像素缺陷。