[发明专利]孔类零件检测仪与孔检测方法

说明书

本发明属于机械制造领域，具体涉及孔类零件检测仪与孔检测方法。主要用于检测孔轴线直线度等形位误差及其它质量指标。检测仪包括基准部分、驱动部分、探测部分、光学部分、运算显示部分。带孔工件相对于基准移动；探测部分与孔壁接触或与孔壁之间有气膜，可绕支点摆动。光斑随带孔工件运动而变化。运算显示部分能显示光斑位置变化或其变换后的信息。光线与孔的中心线同轴或不同轴，探测杆、探测头上可设置孔，探测头与被测工件的孔壁形成环形楔形空间。孔检测方法包括孔检测仪器，步骤如下：第一步，放置带孔工件，并发出光线；第二步，使带孔工件或探测部分沿基准部分移动；第三步，根据光斑信息求孔形状位置误差或尺寸误差或粗糙度。

技术领域

本发明属于机械制造领域，具体涉及孔类零件检测仪与孔检测方法。本发明适用于孔，包括光孔、带有槽的孔、中间大两头小的孔，特别适用于深孔的检测。

背景技术

总体而言，孔的检测，其技术难度大于针对外部结构的检测。研究人员针对孔的检测，进行了多方面尝试，申请了以下专利。[1]一种孔轴线直线度激光检测装置[P].山西：CN103175488A。[2]一种单激光单PSD储存式深孔直线度检测装置[P].山西：CN203981133U。[3]超声深孔直线度检测装置[P]。山西：CN205228402U。

发明内容

本发明的目的：克服现有检测过程中，位于孔内的检测装置相对于孔壁旋转所造成的检测误差；通过多种方法，提高检测精度；探讨非接触式测量，减少摩擦磨损。

本发明通过以下技术创新点实现。

1.孔类零件检测仪，其特征在于：包括基准部分、驱动部分、探测部分、光学部分、运算显示部分；人手或驱动部分使带孔工件或探测部分相对于基准部分移动；探测部分位于孔内的装置有与孔壁接触的零件或与孔壁之间存在气膜；探测部分能够绕支点在空间内运动；光学部分的光线及光斑能随带孔工件或探测部分的运动而变化；光学部分的光发射装置位于孔内或孔外；光学部分与探测部分位于支点的一侧或两侧；所设计的光线位置与带孔工件孔的中心线在理论上同轴或不同轴，运算显示部分对光斑位置信息进行计算、显示光斑位置或其变化或其变换后的信息；所述的支点可以在孔内或孔外。

2.孔检测方法包括孔类零件检测仪，其特征在于：包括基准部分、驱动部分、探测部分、光学部分、运算显示部分；人手或驱动部分使带孔工件或探测部分相对于基准部分移动；探测部分位于孔内的装置有与孔壁接触的零件或与孔壁之间存在气膜；探测部分能够绕支点在空间内运动；光学部分的光线及光斑能随带孔工件或探测部分的运动而变化；光学部分的光发射装置位于孔内或孔外；光学部分与探测部分位于支点的一侧或两侧；所设计的光线位置与带孔工件孔的中心线在理论上同轴或不同轴，运算显示部分对光斑位置信息进行计算、显示光斑位置或其变化或其变换后的信息；所述的支点可以在孔内或孔外；孔检测方法的步骤为：第一步，放置带孔工件并发出光线或者发出光线并放置带孔工件；第二步，使带孔工件或探测部分沿基准部分移动；第三步，根据光斑信息求孔形状位置误差或尺寸或粗糙度或其统计数据。

3.根据技术创新点1或2所述的孔类零件检测仪，其特征在于：所述的基准部分有导向体；所述的驱动部分有滑动体；所述的探测部分有探测杆、探测头；探测头是位于孔内的装置，与孔壁接触或与孔壁之间有气膜；所述的光学部分有光发射装置、光线、光接收装置；所述的运算显示部分包括运算器和显示器；探测头位于探测杆上，当人手或驱动部分带动探测部分或带孔工件沿导向体运动时，探测杆随孔的变化和探测头相对基准部分的变化绕支点进行空间内的运动；所发出的光线射向光接收装置；探索杆位置的变化引起光发射装置、光线和光接收装置上光斑位置发生变化；显示器反映光斑位置或其变化或其变换后的信息，运算器为独立装置或与显示器制作为一体。