[发明专利]孔类零件检测仪与孔检测方法在审
申请号: | 201910991809.8 | 申请日: | 2019-10-13 |
公开(公告)号: | CN112648921A | 公开(公告)日: | 2021-04-13 |
发明(设计)人: | 于大国;赵明;尹忠伟;王健;李梦龙;赵晓巍;王峰;申鹏;马靖;王琦玮;刘江 | 申请(专利权)人: | 中北大学 |
主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00;G01B11/06;G01B11/12;G01B11/24;G01B11/27 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 030051 山西省太原市*** | 国省代码: | 山西;14 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 零件 检测 方法 | ||
1.孔类零件检测仪,其特征在于:包括基准部分、驱动部分、探测部分、光学部分、运算显示部分;人手或驱动部分使带孔工件或探测部分相对于基准部分移动;探测部分位于孔内的装置有与孔壁接触的零件或与孔壁之间存在气膜;探测部分能够绕支点在空间内运动;光学部分的光线及光斑能随带孔工件或探测部分的运动而变化;光学部分的光发射装置位于孔内或孔外;光学部分与探测部分位于支点的一侧或两侧;所设计的光线位置与带孔工件孔的中心线在理论上同轴或不同轴,运算显示部分对光斑位置信息进行计算、显示光斑位置或其变化或其变换后的信息;所述的支点可以在孔内或孔外。
2.孔检测方法包括孔类零件检测仪,其特征在于:包括基准部分、驱动部分、探测部分、光学部分、运算显示部分;人手或驱动部分使带孔工件或探测部分相对于基准部分移动;探测部分位于孔内的装置有与孔壁接触的零件或与孔壁之间存在气膜;探测部分能够绕支点在空间内运动;光学部分的光线及光斑能随带孔工件或探测部分的运动而变化;光学部分的光发射装置位于孔内或孔外;光学部分与探测部分位于支点的一侧或两侧;所设计的光线位置与带孔工件孔的中心线在理论上同轴或不同轴,运算显示部分对光斑位置信息进行计算、显示光斑位置或其变化或其变换后的信息;所述的支点可以在孔内或孔外;孔检测方法的步骤为:第一步,放置带孔工件并发出光线或者发出光线并放置带孔工件;第二步,使带孔工件或探测部分沿基准部分移动;第三步,根据光斑信息求孔形状位置误差或尺寸或粗糙度或其统计数据。
3.根据权利要求1或2所述的孔类零件检测仪,其特征在于:所述的基准部分有导向体;所述的驱动部分有滑动体;所述的探测部分有探测杆、探测头;探测头是位于孔内的装置,与孔壁接触或与孔壁之间有气膜;所述的光学部分有光发射装置、光线、光接收装置;所述的运算显示部分包括运算器和显示器;探测头位于探测杆上,当人手或驱动部分带动探测部分或带孔工件沿导向体运动时,探测杆随孔的变化和探测头相对基准部分的变化绕支点进行空间内的运动;所发出的光线射向光接收装置;探索杆位置的变化引起光发射装置、光线和光接收装置上光斑位置发生变化;显示器反映光斑位置或其变化或其变换后的信息,运算器为独立装置或与显示器制作为一体。
4.根据权利要求1或2所述的孔类零件检测仪,其特征在于:当光学部分与探测部分位于支点的同一侧时,光斑的变动量大于探测头的变动量;当光学部分与探测部分分别位于支点的两侧、且光接收装置到支点的距离大于探测头到支点的距离时,光斑的变动量大于探测头的变动量;光接收装置有罩盖;所述的光斑位置变换后的信息为孔的直线度或垂直度或平行度或倾斜度或尺寸或粗糙度或其统计数据。
5.根据权利要求1或2所述的孔类零件检测仪,其特征在于:探测部分自动适应孔径的变化;所述的支点处有间隙调整装置或没有间隙调整装置,支点为球副或球轴承,或其它结构,所述的其它结构可使探测部分绕支点摆动或转动。
6.根据权利要求1或2所述的孔类零件检测仪,其特征在于所述的基准部分的导向体为机床导轨或其它导向物体,所述的驱动部分的滑动体为机床溜板或其它滑动物体;光学位移检测装置或机械位移检测装置检测带孔工件或探测部分相对于基准部分的移动距离;探测部分是整体或分体式,分体式探测部分能够被拆开、拆开后能够被组装为整体。
7.根据权利要求1或2所述的孔类零件检测仪,其特征在于,当探测杆脱离带孔工件时,位于其下方的缓冲器上或自然下垂;所述的缓冲器有弹簧或弹性材料或磁性材料,或者缓冲器与探测杆之间通入有压气体,气体作用于探测杆。
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