[发明专利]孔矫正装备与矫正方法

权利要求书

1.孔矫正装备包括检测设备和矫直设备，其特征在于：检测设备有基准部分、驱动部分、探测部分、光学部分、运算显示部分；人手或驱动部分使带孔工件或探测部分相对于基准部分移动；探测部分位于孔内的装置有与孔壁接触的零件或与孔壁之间存在气膜；探测部分能够绕支点在空间内运动；光学部分的光线及光斑能随带孔工件或探测部分的运动而变化；光学部分的光发射装置位于孔内或孔外；光学部分与探测部分位于支点的一侧或两侧；所设计的光线位置与带孔工件孔的中心线在理论上同轴或不同轴，运算显示部分对光斑位置信息进行计算、显示光斑位置或其变化或其变换后的信息；支点可以在孔内或孔外；探测部分采用对称式结构或非对称式结构；探测部分是整体或分体式；带孔工件立式或卧式放置；在矫直设备上沿带孔工件表面的长度方向和圆周方向分布有多个专用加力器，形成专用加力器阵列；加力前测量各个加力部位偏离理想位置的误差；各个专用加力器施加力的大小与所在加力部位偏离理想位置的误差有关；有加热装置或没有加热装置。

2.孔矫正方法包括检测设备、矫直设备和矫直方法，其特征在于：检测设备有基准部分、驱动部分、探测部分、光学部分、运算显示部分；人手或驱动部分使带孔工件或探测部分相对于基准部分移动；探测部分位于孔内的装置有与孔壁接触的零件或与孔壁之间存在气膜；探测部分能够绕支点在空间内运动；光学部分的光线及光斑能随带孔工件或探测部分的运动而变化；光学部分的光发射装置位于孔内或孔外；光学部分与探测部分位于支点的一侧或两侧；所设计的光线位置与带孔工件孔的中心线在理论上同轴或不同轴，运算显示部分对光斑位置信息进行计算、显示光斑位置或其变化或其变换后的信息；支点可以在孔内或孔外；探测部分采用对称式结构或非对称式结构；探测部分是整体或分体式；带孔工件立式或卧式放置；在矫直设备上沿带孔工件表面的长度方向和圆周方向分布有多个专用加力器，形成专用加力器阵列；加力前测量各个加力部位偏离理想位置的误差；各个专用加力器施加力的大小与所在加力部位偏离理想位置的误差有关；有加热装置或没有加热装置。矫直方法的步骤为：第一步，驱动装置或人手使带孔工件或探测部分相对于基准部分移动，探测部分因孔各个部位偏离理想位置，即存在误差而绕支点转动；光学部分的光线及光斑随探测部分的运动而变化；读数部分显示光斑位置或其变换后的信息；第二步，多个专用加力器加力矫直带孔工件，各个专用加力器施加力的大小与所在加力部位偏离理想位置的误差有关；所采用的方式有冷矫直或热矫直；第三步，必要时，移动带孔工件或转动带孔工件，重复检测或重复加力。

3.根据权利要求1或2所述的孔矫正装备与矫正方法，其特征在于：所述的基准部分有导向体；所述的驱动部分有驱动体；所述的探测部分有探测杆、探测头；探测头是位于孔内的装置，与孔壁接触或与孔壁之间有气膜；所述的光学部分有光发射装置、光线、光接收装置；所述的运算显示部分包括运算器和显示器；探测头位于探测杆上，当人手或驱动部分带动探测部分或带孔工件沿导向体运动时，探测杆随孔的变化和探测头相对基准部分的变化绕支点进行空间内的运动；所发出的光线射向光接收装置；探索杆位置的变化引起光发射装置、光线和光接收装置上光斑位置发生变化；显示器反映光斑位置或其变化或其变换后的信息，运算器为独立装置或与显示器制作为一体。

4.根据权利要求1或2所述的孔矫正装备与矫正方法，其特征在于：当光学部分与探测部分位于支点的同一侧时，光斑的变动量大于探测头的变动量；当光学部分与探测部分分别位于支点的两侧、且光接收装置到支点的距离大于探测头到支点的距离时，光斑的变动量大于探测头的变动量；光接收装置有罩盖；所述的光斑位置变换后的信息为孔的直线度或垂直度或平行度或倾斜度。

5.根据权利要求1或2所述的孔矫正装备与矫正方法，其特征在于：探测部分自动适应孔径的变化；所述的支点处有间隙调整装置或没有间隙调整装置，支点为球副或球轴承，或其它结构，所述的其它结构可使探测部分绕支点摆动或转动。