[发明专利]一种高质量氮化铝薄膜的同质外延生长方法在审

专利信息
申请号: 201910982012.1 申请日: 2019-10-16
公开(公告)号: CN111188090A 公开(公告)日: 2020-05-22
发明(设计)人: 罗伟科;李忠辉 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第五十五研究所
主分类号: C30B29/40 分类号: C30B29/40;C30B25/10;C30B25/16;C30B25/20
代理公司: 南京君陶专利商标代理有限公司 32215 代理人: 严海晨
地址: 210016 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 质量 氮化 薄膜 同质 外延 生长 方法
【说明书】:

发明涉及一种高质量氮化铝薄膜的同质外延生长方法,基于氮化铝衬底的高质量氮化铝薄膜的同质外延生长方法,在MOCVD设备中进行的,包括如下步骤:选择一氮化铝衬底;将衬底放入MOCVD反应腔内,升温烘烤衬底;通入氨气(NH3)对衬底进行保护,进一步提升生长温度,同时通入三甲基铝(TMAl)、氨气(NH3),采用低生长速率生长第一层氮化铝(AlN)优化层;而后降低生长温度,提高生长速率生长第二层高质量AlN外延薄膜。本发明的优点:方法简单易行,生长周期短,材料性能好,是实现AlN外延薄膜高质量、低成本生长的有效解决方案。

技术领域

本发明是一种高质量氮化铝薄膜的同质外延生长方法,属于半导体技术领域。

背景技术

Ⅲ族氮化物(包括氮化镓、氮化铝、氮化铝镓、氮化铟、氮化铟镓、氮化铟铝镓等),其禁带宽度可在0.7eV-6.2eV间调节,覆盖整个中红外、可见光和紫外波段。在光电子应用方面,如白光二极管(LED)、蓝光激光器(LD),紫外探测器等方面获得了重要的应用和发展。氮化铝(AlN)作为宽带隙的直接带隙半导体,具有宽带隙(6.2eV),是一种重要的蓝光和紫外发光材料,在紫外探测器 、紫外发光二极管和紫外激光器等光电器件中有重要的应用,特别是在背入射日光盲探测器、倒扣封装的紫外LED中是必不可少的。同时,因为又具有高热导率、高硬度、高熔点以及高的化学稳定性、大的击穿场强和低的介质损耗,尤其是AlN具有与Si、GaAs等常用半导体材料的热膨胀系数相近和兼容性强的特点,氮化铝薄膜可用于高温、高功率的微电子器件。

深紫外AlGaN基光电器件在污水净化、杀菌、医学、生化、白光照明、军事等诸多领域有着广泛的应用。目前,由于缺乏与高Al组分AlGaN基材料晶格相匹配的衬底,所以难以生长出高质量高Al组分AIGaN器件结构外延层。理论上,最适合于高Al组分AlGaN基材料生长的是AlN 单晶衬底,它不仅与高Al组分AlGaN外延层具有良好的晶格匹配度,并且对深紫外光透过性好。AlN作为一种新型的宽带隙半导体,比GaN、SiC衬底具有更强的热稳定性,其衬底表面吸附的杂质离子类型也不相同。因此,采用AlN衬底进行外延生长高质量AlN外延层时,采用的方法也不同于GaN、SiC等衬底。高质量的AlN外延生长难度较大,主要有两方面的原因:(1) Al-N 键能很强。Al 原子在生长表面的扩散受到限制, 侧向生长速率很低,很难形成二维层状生长;(2) MOVPE 生长中的Al 源TMA 和NH3 之间有强烈的预反应,预反应不但会消耗大量反应剂,而且形成的固态聚合物可能会沉积在样品表面而不能够充分分解,导致外延层中杂质的掺入,甚至会造成外延层的多晶生长。因此能否制备出具有低位错密度、无裂纹、原子级光滑表面的AlN材料,是提高器件特性的关键。

同时,受晶格匹配度和表面重构的影响,AlN衬底上同质外延AlN材料其生长机理有别于异质外延技术, AlN异质外延技术中由于与衬底的晶格失配较大,一般采用两步法生长,即先生长一层低温的成核层(岛状生长模式),然后成核层高温退火重结晶后继续高温生长(层-层生长模式),通常以上三种生长模式在AlN异质外延技术中都可以观察到。而同质外延中除了这三种生长模式外,还有两种新的生长模式(台阶流生长模式和台阶聚并生长模式)更为常见。台阶流生长模式是生长沿着台阶层铺满整个台面,最终各个台面完成一层生长后的表面台阶状况没有发生变化,整个过程就像各个台阶平行向前流动一样。当台阶不是单层生长,而是一群台阶聚并形成更高台阶的情况时,就是台阶聚并生长模式,此台阶聚并会增大表面粗糙度,影响材料性能,因此生长中应当避免。台阶流生长模式由于能产生结构完整和平滑的表面,为最优的生长模式。生长模式的选择对位错、杂质等微观缺陷的形成以及表面形貌都有着非常重大影响。如果想要获得原子级平滑的表面,就需要避免层-层模式和台阶聚并模式,而采用台阶流生长模式。

发明内容

本发明提出的是一种高质量氮化铝薄膜的同质外延生长方法,其目的在于针对现有技术存在的缺陷,通过采用AlN衬底,实现同质外延生长,简化外延生长工艺,从根本上消除晶格失配应力对外延薄膜的影响,从而获得高质量的AlN外延薄膜。

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