[发明专利]智能缺陷识别系统

说明书

本申请公开了智能缺陷识别系统。可以使用具有至少服务器的系统智能地识别电子组件中的各种缺陷，该服务器连接到第一捕获模块和第二捕获模块。第一捕获模块可以位于第一生产线附近，且第二捕获模块位于第二生产线附近。在将图像发送到服务器的分类模块之前，可以通过相应的第一捕获模块和第二捕获模块收集第一电子组件和第二电子组件的图像，在该服务器中，利用分类模块同时在第一电子组件和第二电子组件的每一个中自动地检测到至少一个缺陷。

发明内容

根据一些实施例，智能缺陷识别系统可以具有连接到第一捕获模块和第二捕获模块的服务器，其中第一捕获模块位于第一电子组件所在的第一生产线附近，第二捕获模块位于第二电子组件所在的第二生产线附近。服务器的分类模块适于同时自动地检测第一电子组件和第二电子组件的每一个中的缺陷。

各种实施例布置了一种智能缺陷识别系统，其中服务器连接到第一捕获模块和第二捕获模块。第一捕获模块可以位于第一生产线附近，且第二捕获模块位于第二生产线附近。在将图像发送到服务器的分类模块之前，可以通过相应的第一捕获模块和第二捕获模块收集第一电子组件和第二电子组件的图像，在该服务器中，利用分类模块同时在第一电子组件和第二电子组件的每一个中自动地检测至少一个缺陷。

在其他实施例中，智能缺陷识别系统具有连接到第一捕获模块和第二捕获模块的服务器。第一捕获模块可以位于第一生产线附近，且第二捕获模块位于第二生产线附近。在将图像发送到服务器的分类模块之前，可以通过相应的第一捕获模块和第二捕获模块收集第一电子组件和第二电子组件的图像，在该服务器中，利用分类模块同时在第一电子组件和第二电子组件的每一个中自动地检测至少一个缺陷。基于至少一个检测到的缺陷，利用服务器的预测模块为每个电子组件预测一个或多个性能指标。

附图简述

图1提供了根据各个实施例布置的示例数据存储系统的一部分的框图。

图2表示能够在图1的数据存储系统中采用的示例电子组件的部分。

图3示出了根据一些实施例可以实施的示例电子组件时间线的框图。

图4示出了示例视觉检查例程，该示例视觉检查例程可以利用图1的数据存储系统的部分来执行。

图5是在一些实施例中利用图1的数据存储系统的部分来执行的示例智能检查例程。

图6描绘了根据各种实施例配置和操作的示例智能缺陷识别系统的部分。

图7传达了可由图6的智能缺陷识别系统采用的示例学习模块。

图8示出了根据各种实施例使用的示例智能缺陷识别系统的部分。

具体实施方式

本公开的各种实施例通常针对智能缺陷识别系统，该系统减少了电子组件的制造时间，同时提高了其准确性。

使用基于规则的分析方法，具有可变形貌和表面光洁度的复杂电子组件的自动检查是很难的。取而代之的是，通常采用人工视觉分析来评估所构造的电子组件中缺陷的存在和严重性。然而，人工参与缺陷识别的速度相对较慢，特别是与商业电子部件制造可以生产要检查的组件的速度相比。

另外，难以通过以提供准确地评估所构造的电子组件是否可以按预期操作的能力的方式的自动测试来可靠地表征缺陷的多种不同类型、尺寸、位置和外观。随着时间的推移，机器学习算法和技术的复杂性可以改善缺陷的自动识别，但仅限于单个测试站一次评估一个所构造的组件，这既繁琐又缓慢。因此，人们一直对优化自动电子组件缺陷分析以提供更快的缺陷识别和高准确性评估感兴趣。