[发明专利]智能缺陷识别系统

权利要求书

1.一种装置，包括连接到第一捕获模块和第二捕获模块的服务器，其中所述第一捕获模块位于第一电子组件所在的第一生产线附近，所述第二捕获模块位于第二电子组件所在的第二生产线附近，所述服务器的分类模块适于同时自动检测所述第一电子组件和所述第二电子组件的每一个中的缺陷。

2.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述分类模块由服务器的控制器指导以检测缺陷。

3.如权利要求1所述的装置，其特征在于，每个捕获模块包括相机，所述相机给所述分类模块提供所述第一或第二电子组件的至少一个图像。

4.一种方法，包括：

连接服务器到第一捕获模块和第二捕获模块，所述第一捕获模块位于第一生产线附近且所述第二模块位于第二生产线附近；

使用所述第一生产线制造第一电子组件；

使用所述第二生产线制造第二电子组件；

使用所述第一捕获模块收集所述第一电子组件的第一图像；

使用所述第二捕获模块收集所述第二电子组件的第二图像；

将所述第一和第二图像发送到所述服务器的分类模块；以及

使用所述分类模块同时对所述第一和第二电子组件中的每一个自动检测至少一个缺陷。

5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，所述服务器的映射模块创建所述第一图像的缺陷图。

6.如权利要求5所述的方法，其特征在于，在评估所述缺陷图之后利用所述分类模块检测所述至少一个缺陷。

7.如权利要求4所述的方法，其特征在于，所述分类模块使用所述服务器的学习模块来检测所述至少一个缺陷，所述学习模块提供至少一个缺陷标准。

8.如权利要求7所述的方法，其特征在于，所述学习模块针对所述至少一个检测到的缺陷中的每一个生成缺陷准确性指标。

9.一种方法，包括：

将服务器连接到第一捕获模块和第二捕获模块，所述第一捕获模块位于第一生产线附近且所述第二模块位于第二生产线附近；

使用所述第一生产线制造第一电子组件；

使用所述第二生产线制造第二电子组件；

使用所述第一捕获模块收集所述第一电子组件的第一图像；

使用所述第二捕获模块收集所述第二电子组件的第二图像；

将所述第一和第二图像发送到所述服务器的分类模块；

同时对所述第一和第二电子组件中的每一个自动检测至少一个缺陷；以及

基于所述至少一个检测到的缺陷，利用所述服务器的预测模块为每个所述电子组件预测一个或多个性能指标。

10.如权利要求9所述的方法，其特征在于，所述预测模块使用由所述服务器的映射模块创建的缺陷图。