[发明专利]基于光热电效应的圆偏振光的探测器、系统及制备方法

说明书

本发明涉及一种基于光热电效应的圆偏振光的探测器、系统及制备方法，具体而言涉及圆偏振光测量领域，当光照射到该接电带表面时，由于该接电带一端设置有金属膜，另一端未设置金属膜，则该接电带两端会产生温度差，又由于该金属膜与电极电连接，从而该接电带两端会形成电流，并且，由于该多个相互平行的孔洞与接电带的夹角小于90度，则左旋圆偏振光和右旋圆偏振光与该接电带产生的共振情况不同，即当左旋圆偏振光和右旋圆偏振光照射到该接电带上，该接电带产生的电信号不同，通过电信号就可以简单的区分出照射带该接电带上的光是左旋圆偏振光或右旋圆偏振光。

技术领域

本发明涉及圆偏振光测量领域，具体而言，涉及一种基于光热电效应的圆偏振光的探测器、系统及制备方法。

背景技术

圆偏振光是光矢量端点的轨迹为一圆，即光矢量不断旋转，其大小不变，但方向随时间有规律地变化的光，圆偏振光分为左圆偏振光和右圆偏振光。

现有技术对判断圆偏振光属于左圆偏振光或者右圆偏振光的方法是通过-电矢量的旋转方向来进行判断的，其中，电矢量顺时针旋转的称右旋椭圆偏振光，凡逆时针旋转的称左旋椭圆偏振光。

但是，现有技术中，需要通过精密的光学仪器获取圆偏振光的电矢量的旋转方向，进而判断圆偏振光属于左圆偏振光或者右圆偏振光，此方法因为需要用到精密的光学仪器，成本较高。

发明内容

本发明的目的在于，针对上述现有技术中的不足，提供一种基于光热电效应的圆偏振光的探测器、系统及制备方法，以解决现有技术中，需要通过精密的光学仪器获取圆偏振光的电矢量的旋转方向，进而判断圆偏振光属于左圆偏振光或者右圆偏振光，因为需要用到精密的光学仪器，成本较高的问题。

为实现上述目的，本发明实施例采用的技术方案如下：

第一方面，本发明实施例提供了一种基于光热电效应的圆偏振光的探测器，探测器包括：接电带、金属膜和电极；

接电带的一端挖设多个相互平行的孔洞和一个贯穿所有相互平行的孔洞的槽，多个相互平行的孔洞与接电带的夹角小于90度，槽与接电带的上下平面均平行，接电带挖设孔洞和槽的一端上还覆盖一层金属膜，接电带的另一端设置有电极，金属膜与电极电连接。

可选地，该探测器还包括挡光层，挡光层设置在接电带未设置金属膜的一端。

可选地，该挡光层的材料为氧化钛和炭黑中任意一种。

可选地，该金属膜的材料包括：金、银和钼中至少一种。

可选地，该接电带的材料为绝缘材料。

可选地，该探测器还包括金属颗粒层，金属颗粒层设置在孔洞和槽的底部。

第二方面，本发明实施例提供了另一种基于光热电效应的圆偏振光的探测器系统，系统包括：电流测量装置和权利要求1-6任意一项的基于光热电效应的圆偏振光的探测器，电流测量装置的正极和负极分别与接电带两端的金属膜和电极电连接。

可选地，该电流测量装置包括：电流表、电压表和电能表中任意一种。

第三方面，本发明实施例提供了另一种基于光热电效应的圆偏振光的探测器制备方法，制备方法包括：

使用离子束刻蚀法在接电带上刻蚀多个相互平行的孔洞和一个贯穿所有孔洞的槽；

使用电子束蒸发镀膜法在接电带上具有槽和孔洞的一端镀金属膜；

使用电子束蒸发镀膜法在接电带的另一端镀金属节，将金属节作为电极。

可选地，该使用电子束蒸发镀膜法在接电带上具有槽和孔洞的一端镀金属膜的步骤，包括：

使用电子束蒸发镀膜法垂直于接电带，对接电带具有槽和孔洞的一端镀金属膜；