[发明专利]一种金刚石微通道Cu基CVD金刚石热沉片及其制备方法有效
申请号: | 201910964118.9 | 申请日: | 2019-10-11 |
公开(公告)号: | CN110557936B | 公开(公告)日: | 2020-11-03 |
发明(设计)人: | 王进军 | 申请(专利权)人: | 陕西科技大学 |
主分类号: | H01L23/373 | 分类号: | H01L23/373 |
代理公司: | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人: | 高博 |
地址: | 710021*** | 国省代码: | 陕西;61 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 金刚石 通道 cu cvd 热沉片 及其 制备 方法 | ||
本发明公开了一种金刚石微通道Cu基CVD金刚石热沉片及其制备方法,从下至上依次包括Cu基底、微通孔模板和CVD金刚石薄,Cu基底和微通孔模板之间设置有纳米金刚石颗粒,Cu基底中镶嵌有金刚石微通道阵列,金刚石微通道的直径为0.3~0.5mm,微通道间距2~3mm。本发明散热效果优于Ag、Cu、Al等传统热沉片;微通道Cu基金刚石热沉片散热性能更优;大大提高了微通孔内金刚石的形核密度和生长速率;在微通孔内实现了金刚石薄膜CVD选择生长。
技术领域
本发明属于金刚石材料应用技术领域,具体涉及一种金刚石微通道Cu基CVD金刚石热沉片及其制备方法。
背景技术
随着微电子集成技术和空芯印制板高密度组装技术的飞速进展,电子元部件和电子系统的设计和生产不断向小型化、轻量化、紧凑化、高效化的方向发展。电子元部件和电子系统的功率密度越来越高,导致运行过程中产生大量的热量,这些热量若不及时排除,将会严重影响电子元部件和电子系统的工作稳定性和安全可靠性,因此,散热问题成为电子技术领域一个亟待解决的关键性课题。Ag、Cu、Al等传统的电子封装散热材料由于热膨胀系数大,受热后膨胀容易引发循环热应力损坏电子元器件,显然已不能满足目前先进电子技术对封装散热材料的要求。
金刚石的热导率最高可达2000W/(m·K),将金刚石和具有高热导率的金属Cu复合,有望可获得高热导、低膨胀、低密度的理想新型电子封装散热材料,室温下其热导率有望达到450W/(m·K)~1200W/(m·K),热膨胀系数在4×10-6~6×10-6K-1之间,与Si、GaAs等半导体材料相匹配,Cu基金刚石热沉片可以很好地解决现代大功率、高密度电子元部件和电子系统的散热问题。
发明内容
本发明所要解决的技术问题在于针对上述现有技术中的不足,提供一种金刚石微通道Cu基CVD金刚石热沉片及其制备方法,利用金刚石的高热导率来现代大功率、高密度电子元部件和电子系统的散热问题。
本发明采用以下技术方案:
一种金刚石微通道Cu基CVD金刚石热沉片,从下至上依次包括Cu基底、微通孔模板和CVD金刚石薄,Cu基底和微通孔模板之间设置有纳米金刚石颗粒,Cu基底中镶嵌有金刚石微通道阵列,金刚石微通道的直径为0.3~0.5mm,微通道间距2~3mm。
具体的,Cu基底的直径为10~20mm,厚度为0.5~1mm。
具体的,金刚石微通道形状包括圆形、正三角形、正方形、正六边形或正八边形。
具体的,纳米金刚石颗粒呈球状结构,平均粒径为2~6nm。
具体的,CVD金刚石薄膜的厚度为0.2~0.3mm。
本发明的另一个技术方案是,一种金刚石微通道Cu基CVD金刚石热沉片的制备方法,包括以下步骤:
S1、将纯度为99.99%~99.999%,直径10~20mm的无氧铜基体线切割成0.5~1mm的铜片作为Cu基底,并对Cu基底表面清洗;
S2、微通孔模板制作,微通孔模板采用与Cu基底同样规格的无氧铜;
S3、Cu基底表面静电组装纳米金刚石颗粒,提高金Cu基上金刚石的形核密度,纳米金刚石颗粒呈球状,平均粒径2~6nm;
S4、将微通孔模板堆叠Cu基底上,采用模板法CVD选择生长金刚石薄膜,CVD金刚石薄膜厚度0.2~0.3mm;
S5、化学机械抛光金刚石面,使得表面金刚石平整;
S6、Cu基底剥离,用镊子沿着Cu基底和微通孔模板之间的缝隙轻轻将Cu基撬开去除Cu基;或将样品在三氯化铁溶液中浸泡30~60s去除Cu基底。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于陕西科技大学,未经陕西科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201910964118.9/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种火电厂自动化控制柜
- 下一篇:有效抑制在BGA组合件的不润湿开口的助焊剂