[发明专利]一种模组Gamma校正方法、终端设备及计算机可读介质有效

专利信息
申请号: 201910960969.6 申请日: 2019-10-11
公开(公告)号: CN110459170B 公开(公告)日: 2020-04-10
发明(设计)人: 熊逍;徐鹏;郜鹏 申请(专利权)人: 武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司
主分类号: G09G3/3208 分类号: G09G3/3208;G06F17/16
代理公司: 武汉东喻专利代理事务所(普通合伙) 42224 代理人: 李佑宏
地址: 430205 湖北省武*** 国省代码: 湖北;42
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 模组 gamma 校正 方法 终端设备 计算机 可读 介质
【说明书】:

发明公开了一种模组Gamma校正方法、终端设备及计算机可读介质,其通过当前绑点下,获取所有模组样本的Gamma校正值得到当前参考基矩阵,利用当前参考基矩阵和当前权重矩阵得到目标模组的Gamma校正初始值,利用Gamma校正初始值进行Gamma校正以获取目标模组的Gamma校正值;其中,当前权重矩阵的获取过程具体为:利用上一绑点的权重矩阵构建当前权重矩阵的目标函数,构建当前权重矩阵的约束条件,结合所述约束条件求解所述目标函数的最小值以得到当前权重矩阵,从而提高模组Gamma校正初始值的准确性,进而减少Gamma校正的调节次数提高模组的Gamma校正效率。

技术领域

本发明属于模组校正领域,具体涉及一种模组Gamma校正方法、终端设备及计算机可读介质。

背景技术

在OLED产线上,Gamma校正是一种对模组亮度及色度进行调整的迭代优化技术。其目的是使模组真实的线性响应与人眼感知下的非线性响应相协调,达到自然过渡、层次分明的发光效果。由于OLED模组在工艺上的细微噪声以及相同涂层上分子排布的差异性,导致同一产线上不同模组对电信号的响应不尽相同,这是Gamma校正的主要难点所在。并且,同一模组的响应也并非稳定(随时间变化),导致高精度Gamma校正难以实现,因此如何配置一个合适的收敛范围也是一个无法规避的问题。

基于现阶段Gamma校正的提速需求,降低迭代优化所需的时间将对OLED产能具有重要意义。在传统迭代优化算法逐渐趋于稳定的前提下,一个良好的初值设计将是Gamma校正必然的提升方向。目前,业内对如何给出Gamma校正的初值的方法主要分为两类: ①插值法; ②加权法。对于插值法,往往基于某种先验认识选取线性或非线性函数形式进行插值;对于加权法,通常以某块特性接近的参考屏为基础,对所有参考屏的均匀加权值进行某种平移,两种方法各有优劣,在一定程度上反映出设计者对初值选取的直觉;从实践来看,此两种方法在模组差异性较小的前提下预测效果可以接受,但在差异性较大时预测效果往往会大打折扣,由于预测结果不够准确,使得在后续的Gamma校正过程其Gamma校正的调节次数增多,因而使得Gamma校正效率低下。

发明内容

针对现有技术的以上缺陷或改进需求,本发明提供了一种模组Gamma校正方法、终端设备及计算机可读介质,其通过利用上一绑点的权重矩阵构建当前权重矩阵的目标函数,构建当前权重矩阵的约束条件,结合约束条件求解所述目标函数的最小值以得到当前权重矩阵,利用当前参考基矩阵和当前权重矩阵得到目标模组的Gamma校正初始值,从而提高模组Gamma校正初始值的准确性,进而减少Gamma校正的调节次数提高模组的Gamma校正效率。

为实现上述目的,按照本发明的一个方面,提供了一种模组Gamma校正方法,包括如下步骤:

当前绑点下,获取所有模组样本的Gamma校正值得到当前参考基矩阵,利用当前参考基矩阵和当前权重矩阵得到目标模组的Gamma校正初始值,利用Gamma校正初始值进行Gamma校正以获取目标模组的Gamma校正值;

当前权重矩阵的获取过程具体为:

利用上一绑点的权重矩阵构建当前权重矩阵的目标函数,构建当前权重矩阵的约束条件,结合约束条件求解所述目标函数的最小值以得到当前权重矩阵。

作为本发明的进一步改进,初始绑点的权重矩阵为均值矩阵。

作为本发明的进一步改进,约束条件包括第一约束条件,第一约束条件为当前权重矩阵、上一绑点的参考基矩阵和上一绑点的目标模组的Gamma校正值三者之间的映射关系。

作为本发明的进一步改进,约束条件还包括第二约束条件,第二约束条件为当前权重矩阵的所有权重参数总和为定值。

作为本发明的进一步改进,结合约束条件求解目标函数的最小值以得到当前权重矩阵具体为:

利用KKT条件得到当前权重矩阵的近似解析解。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司,未经武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201910960969.6/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top