[发明专利]一种蓝宝石晶片的贴片方法在审
申请号: | 201910946951.0 | 申请日: | 2019-10-07 |
公开(公告)号: | CN110729175A | 公开(公告)日: | 2020-01-24 |
发明(设计)人: | 卢东阳;余胜军;杨青;张京伟 | 申请(专利权)人: | 淮安澳洋顺昌集成电路股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02 |
代理公司: | 21200 大连理工大学专利中心 | 代理人: | 温福雪 |
地址: | 223001*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 不良率 贴片 蓝宝石晶片 晶片分选 贴片产品 统一方向 面加工 面贴合 分选 晶片 上机 统一 加工 | ||
本发明提供了一种蓝宝石晶片的贴片方法。本发明在晶片分选厚度过程中,先对晶片正负BOW面进行分选,并将正BOW面或负BOW面统一方向上机贴片,进行统一负BOW面铜抛、化抛加工。不进行正负BOW值分面贴片产品在加工过程中会出现正负BOW面不统一,正BOW面不良占比≥8%,进行分面贴合后,进行‑BOW面加工,正BOW面不良率可大大降低,综合不良率≤2%。
技术领域
本发明涉及的是一种晶片(包含蓝宝石衬底片、单晶硅、碳化硅等硬脆性材料)贴合的工艺方法。
背景技术
蓝宝石作为一种硬性材料,是一种理想的LED芯片材料。作为LED理想材料不但稳定性好,能够在高温下保持稳定性,而且生产技术成熟、器件质量较好。在于单晶硅、碳化硅衬底相比更容易清洗,因此目前市面上主要采用蓝宝石作为理想衬底材料。
但在实际生产过程中,生产良率的高低、产品面型的控制,直接影响着LED芯片的成本和产品质量(量子效率、出光效率及产品功率等)。因此材料加工过程中的控制尤其重要。在衬底材料加工初期,由于缺少验证,未对退火晶片进行分面(正负BOW)贴片加工,导致产品+BOW不良增加,面型难以控制。该使用新型方法采用分面贴合工艺,在退火片分选过程中对产品进行分面处理,贴片统一采用+BOW面贴合,后段进行-BOW面加工。该加工方法可提升整体良率1.5%。
发明内容
本发明的目的是提供了一种提升一次直通率、增加产品BOW值的一致性、提升整体生产效率的贴片方法。
本发明的技术方案:
一种蓝宝石晶片的贴片方法,步骤如下:
(1)将退火后晶片进行厚度分选,每10um分为一档,并将根据设备测量数据将正BOW值、负BOW值产品区分开;
(2)将区分好BOW值的产品,负BOW面统一朝向晶片料盒U面放入料盒,清洗;
(3)产品清洗后,保持晶片统一BOW值方向,负BOW值朝下,导入贴片设备,确保在贴合时正BOW面贴合在陶瓷盘上;
(4)将导入后的晶片进行液态蜡贴片,贴片温度300-500℃,烘烤时间30-60S,甩蜡速度1500-3500rpm;
(5)将贴合好的晶片利用1.5-6um钻石液进行铜盘铜抛加工,转速30-70rpm,压力150-300g/cm2,加工温度20-38℃,加工30-60min;
(6)铜抛完成后进入带片陶瓷盘刷洗机刷洗,使体积浓度比为5%-40%的水基环保清洗剂,温度50-85℃,刷洗时间30-120s;
(7)刷洗完成后不下片直接进入化抛机进行抛光,使用20wt%的氧化铝抛光液配合抛光布,压力300g/cm2-500g/cm2,转速40-70rpm,加工温度30℃-50℃,40-100分钟。
本发明的有益效果:本发明的主要由原不分正负BOW面进行贴片,贴片后进行铜抛、化抛加工。改善后在晶片分选厚度过程中,先对晶片正负BOW面进行分选,并将正BOW或负BOW面统一方向上机贴片,进行统一负BOW面铜抛、化抛加工。其优点在于,不进行正负BOW值分面贴片产品在加工过程中会出现正负BOW面不统一,正BOW面不良占比≥8%,进行分面贴合后,进行-BOW面加工,正BOW面不良率可大大降低,综合不良率≤2%。
具体实施方式
以下结合技术方案,进一步说明本发明的具体实施方式。
实施例
(1)分选:将退火后晶片进行厚度分选,每10um分为一档,将正BOW、负BOW产品区分开,负BOW统一朝向卡塞U面;
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