[发明专利]显示面板的检测方法及检测装置

说明书

本发明实施例涉及显示技术领域，公开了一种显示面板的检测方法及检测装置。本发明提供了一种显示面板的检测方法，包括：为待测显示面板的每个像素驱动电路的输入端输入测试信号，以使每个像素驱动电路形成电场；利用液晶模组感应每个像素驱动电路的电场，以使液晶模组内液晶发生测试偏转；获取液晶模组内液晶的测试偏转信息；根据测试偏转信息确定待测显示面板是否合格。本发明实施方式提供的一种显示面板的检测方法及检测装置，给出了一种阵列基板的检测方法，操作简单、节省人力且测试结果准确。

技术领域

本发明实施例涉及显示技术领域，特别涉及一种显示面板的检测方法及检测装置。

背景技术

有机发光二极管(Organic Light-Emitting Diode，OLED)显示面板因具有轻薄、节能、宽视角、色域广、对比度高等特性而备受人们的青睐。目前，在OLED显示面板的制程过程中，可以利用氧化物(Oxide)的薄膜晶体管(TFT)工艺技术来制作。采用氧化物的薄膜晶体管工艺技术所制作出来的显示面板，其像素驱动电路中的薄膜晶体管的型态可以为P型或N型，但无论是选择P型还是N型薄膜晶体管来实现像素驱动电路，由于在制作过程中制作工艺的影响，使得像素驱动电路中各驱动晶体管的性能存在差异，显示面板容易出现显示亮度不均匀的现象，进而影响显示面板的亮度均匀性。然而，发明人发现现有技术中检测显示面板的显示均匀性时，既浪费人力，且人为观察的结果也并不准确。

发明内容

本发明实施方式的目的在于提供一种显示面板的检测方法及检测装置，给出了一种阵列基板的检测方法，操作简单、节省人力且测试结果准确。

为解决上述技术问题，本发明的实施方式提供了一种显示面板的检测方法，包括：为待测显示面板的每个像素驱动电路的输入端输入测试信号，以使每个像素驱动电路形成电场；利用液晶模组感应每个像素驱动电路的电场，以使液晶模组内液晶发生测试偏转；获取液晶模组内液晶的测试偏转信息；根据测试偏转信息确定待测显示面板是否合格。

本发明的实施方式还提供了一种显示面板的检测装置，包括：信号输入模块、液晶模组和处理器；信号输入模块连接待测显示面板中每个像素驱动电路的输入端，用于向每个像素驱动电路的输入端输入检测信号，以使每个像素驱动电路形成电场；液晶模组用于感应每个像素驱动电路的电场，以使液晶模组内液晶发生测试偏转；处理器用于获取液晶模组内液晶的测试偏转信息，根据测试偏转信息确定待测显示面板是否合格。

本发明实施方式相对于现有技术而言，提供了一种显示面板的检测方法，通过给像素驱动电路的电压输入端输入测试信号，使得每个像素驱动电路形成电场；利用液晶模组感应每个像素驱动电路的电场使得液晶模组内的液晶发生测试偏转，根据液晶模组内液晶的测试偏转信息确定待测显示面板是否合格，从而可依据液晶模组的测试偏转信息来确定像素驱动电路是否符合要求，给出了一种利用液晶模组中液晶的测试偏转信息来确定显示面板是否合格的检测方法，从而节省人力，相比于人为观察显示面板的方法来说不仅操作简单，且测试结果准确。

另外，每个像素驱动电路的输入端包括：数据信号端、扫描信号端和电压输入端；为待测显示面板的每个像素驱动电路的输入端输入测试信号，具体为：为待测显示面板的每个像素电路的数据信号端、扫描信号端和电压输入端输入第一电平信号；或者，每个像素驱动电路的输入端包括：第一扫描信号端、第二扫描信号端、电压输入端和参考电压端；为待测显示面板的每个像素驱动电路的输入端输入测试信号，具体为：为待测显示面板的每个像素电路的第一扫描信号端、第二扫描信号端和电压输入端输入第一电平信号，并为每个像素电路的参考电压端输入第二电平信号。

另外，根据测试偏转信息确定待测显示面板是否合格，具体包括：预先存储利用液晶模组对标准显示面板检测时的合格偏转信息，其中，标准显示面板与待测显示面板的结构相同；比对测试偏转信息和合格偏转信息得到比对结果；基于比对结果确定待测显示面板是否合格。