[发明专利]显示面板的检测方法及检测装置

权利要求书

1.一种显示面板的检测方法，其特征在于，包括：

每个像素驱动电路的输入端包括：数据信号端、扫描信号端和电压输入端；为待测显示面板的每个像素电路的数据信号端、扫描信号端和电压输入端输入第一电平信号，以使每个像素驱动电路形成电场；

或者，每个像素驱动电路的输入端包括：第一扫描信号端、第二扫描信号端、电压输入端和参考电压端；为待测显示面板的每个像素电路的第一扫描信号端、第二扫描信号端和电压输入端输入第一电平信号，并为每个像素电路的参考电压端输入第二电平信号，以使每个像素驱动电路形成电场；

利用液晶模组感应每个像素驱动电路的电场，以使所述液晶模组内液晶发生测试偏转；

获取所述液晶模组内液晶的测试偏转信息；

根据所述测试偏转信息确定所述待测显示面板是否合格。

2.根据权利要求1所述的显示面板的检测方法，其特征在于，所述根据所述测试偏转信息确定所述待测显示面板是否合格，具体包括：

预先存储利用所述液晶模组对标准显示面板检测时的合格偏转信息，其中，所述标准显示面板与所述待测显示面板的结构相同；

比对所述测试偏转信息和所述合格偏转信息得到比对结果；

基于所述比对结果确定所述待测显示面板是否合格。

3.根据权利要求2所述的显示面板的检测方法，其特征在于，将所述待测显示面板划分为多个子待测区域，将所述标准显示面板划分为多个子标准区域，其中，每个所述子待测区域与每个所述子标准区域一一对应；

所述比对所述测试偏转信息和所述合格偏转信息得到比对结果，具体为：

比对所述测试偏转信息和所述合格偏转信息，得到每个所述子待测区域与对应的每个所述子标准区域的比对结果；

所述基于所述比对结果确定所述待测显示面板是否合格，具体包括：

根据所述比对结果确定所述待测显示面板中显示不良的子待测区域；

综合所述显示不良的子待测区域确定所述待测显示面板中显示不良的区域面积；

根据所述显示不良的区域面积确定所述待测显示面板是否合格。

4.根据权利要求3所述的显示面板的检测方法，其特征在于，所述获取所述液晶模组内液晶的测试偏转信息，具体为：获取所述液晶模组显示的测试偏转图像，根据所述测试偏转图像获取所述测试偏转信息。

5.根据权利要求1所述的显示面板的检测方法，其特征在于，在所述利用液晶模组感应每个像素驱动电路的电场之前，还包括：

对所述液晶模组施加初始化电压，以使所述液晶模组内液晶的偏转方向一致。

6.一种显示面板的检测装置，其特征在于，包括：信号输入模块、液晶模组和处理器；

所述信号输入模块连接待测显示面板中每个像素驱动电路的输入端，用于向每个像素驱动电路的输入端输入检测信号，以使每个像素驱动电路形成电场；

每个像素驱动电路的输入端包括：数据信号端、扫描信号端和电压输入端；所述信号输入模块用于向每个像素驱动电路的数据信号端、扫描信号端和电压输入端输入第一电平信号；

或者，每个像素驱动电路的输入端包括：第一扫描信号端、第二扫描信号端、电压输入端和参考电压端；所述信号输入模块用于向每个像素驱动电路的第一扫描信号端、第二扫描信号端和电压输入端输入第一电平信号，并向每个像素驱动电路的参考电压端输入第二电平信号；

所述液晶模组用于感应每个像素驱动电路的电场，以使所述液晶模组内液晶发生测试偏转；

所述处理器用于获取所述液晶模组内液晶的测试偏转信息，根据所述测试偏转信息确定所述待测显示面板是否合格。