[发明专利]一种深孔内槽底径的检测装置及检测方法

权利要求书

1.一种深孔内槽底径的检测装置，其特征在于：该装置由垫块(1)、检块(2)、左半模(3)和右半模(4)构成；垫块(1)包括底板(5)，底板(5)上设有垂直于底板(5)上平面的定位棒(6)；检块(2)为长条平板状，长条平板下部两侧设有凸出的检测平面(7)；左半模(3)和右半模(4)为平行轴线向切去2/3直径的圆柱形，圆柱形外圆设有检测凸台(8)，检测凸台(8)为圆弧状；检测凸台(8)相对的左半模(3)和右半模(4)另一侧设有被测平面(12)；检测凸台(8)底部设有定位台阶(9)；左半模(3)与右半模(4)对称设置。

2.根据权利要求1所述深孔内槽底径的检测装置，其特征在于：所述检块(2)包括通规检块和止规检块两种。

3.根据权利要求1所述深孔内槽底径的检测装置，其特征在于：所述垫块(1)顶面与定位棒(6)顶面之间的高度A小于待检测零件(10)的内槽(11)底面与待检测零件(10)的底口之间的高度a。

4.根据权利要求1所述深孔内槽底径的检测装置，其特征在于：所述定位台阶(9)的长度B＝a－A。

5.根据权利要求1所述深孔内槽底径的检测装置，其特征在于：所述检测凸台(8)的高度D大于待检测零件(10)的深孔中的内槽(11)深度d。

6.根据权利要求1所述深孔内槽底径的检测装置，其特征在于：所述检测凸台(8)的厚度E小于待检测零件(10)的内槽(11)宽度e。

7.一种利用权利要求1～6任一所述装置进行深孔内槽底径的检测方法，其特征在于：在采用深孔内槽底径的检测装置检测待检测零件(10)的深孔中的内槽(11)的底径时，将待检测零件(10)的内孔底口套在垫块(1)的定位棒(6)上，定位棒(6)顶面高度应低于待检测零件(10)的内槽(11)；然后分别将左半模(3)和右半模(4)平面靠平面从待检测零件的内孔顶口插入待检测零件内孔，当左半模(3)和右半模(4)底部的定位台阶(9)与定位棒(6)顶面接触后，左半模(3)和右半模(4)上的检测凸台(8)恰好位于待检测零件(10)的内槽(11)处；此时在左半模(3)和右半模(4)的两被测平面之间分别插入通规检块和止规检块；通规检块能够从左半模(3)与右半模(4)之间通过，止规检块不能从左半模(3)与右半模(4)之间通过则认定待检测零件(10)的内槽(11)底径为合格；当通规检块和止规检块均能通过或均不能通过左半模(3)与右半模(4)之间时，均认定待检测零件(10)的内槽(11)底径为不合格。

8.根据权利要求7所述的深孔内槽底径的检测方法，其特征在于：所述左半模(3)、通规检块和右半模(4)组合起来的检块通端尺寸(f)与内槽(11)底径的最小尺寸相等；左半模(3)、止规检块和右半模(4)组合起来的检块止端尺寸(F)与内槽(11)底径的最大尺寸相等。