[发明专利]半导体装置有效
| 申请号: | 201910925653.3 | 申请日: | 2019-09-27 |
| 公开(公告)号: | CN111029314B | 公开(公告)日: | 2023-09-08 |
| 发明(设计)人: | 大鸟太地 | 申请(专利权)人: | 三菱电机株式会社 |
| 主分类号: | H01L23/367 | 分类号: | H01L23/367;H01L23/04;H01L23/467;H01L23/64 |
| 代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 何立波;张天舒 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 半导体 装置 | ||
1.一种半导体装置,其具备:
容器体,其具有开口的空间;
半导体芯片,其配置于所述容器体内的所述空间内;
分流电阻,其配置于所述空间内,与所述半导体芯片分离;
电路图案,其配置于所述空间内,将所述半导体芯片与所述分流电阻连接;
分隔部件,其将所述容器体的所述空间分离成所述半导体芯片侧的第1空间和所述分流电阻侧的第2空间;
第1封装材料,其配置于所述第1空间内,封装所述半导体芯片;以及
第1盖部和第2盖部,该第1盖部覆盖所述开口中的与所述第1空间相对应的部分,该第2盖部覆盖所述开口中的与所述第2空间相对应的部分,
所述第2盖部形成将所述第2空间与所述容器体外部连通的至少1个孔,
所述半导体装置还具备第2封装材料,该第2封装材料配置于所述第2空间内,封装所述分流电阻,
所述第1封装材料的材质与所述第2封装材料的材质不同,
所述第2封装材料的耐热性比所述第1封装材料高,
在所述第2盖部与所述第2封装材料之间没有设置所述第1封装材料。
2.一种半导体装置,其具备:
容器体,其具有开口的空间;
半导体芯片,其配置于所述容器体内的所述空间内;
分流电阻,其配置于所述空间内,与所述半导体芯片分离;
电路图案,其配置于所述空间内,将所述半导体芯片与所述分流电阻连接;
分隔部件,其将所述容器体的所述空间分离成所述半导体芯片侧的第1空间和所述分流电阻侧的第2空间;
第1封装材料,其配置于所述第1空间内,封装所述半导体芯片;以及
第1盖部和第2盖部,该第1盖部覆盖所述开口中的与所述第1空间相对应的部分,该第2盖部覆盖所述开口中的与所述第2空间相对应的部分,
所述第2盖部形成将所述第2空间与所述容器体外部连通的至少1个孔,
所述至少1个孔形成于除了所述分流电阻的上方以外的位置。
3.根据权利要求1或2所述的半导体装置,其中,
所述分流电阻以及所述第2空间内的所述电路图案中的至少一部分被防锈膜覆盖。
4.根据权利要求1或2所述的半导体装置,其中,
所述至少1个孔包含俯视观察时的所述第2盖部的一端侧的孔和另一端侧的孔,
剖视观察时的所述第2盖部的上表面的形状与所述第2盖部的下表面的形状不同。
5.根据权利要求1或2所述的半导体装置,其中,
所述至少1个孔是配置于所述第2盖部的多个孔。
6.根据权利要求5所述的半导体装置,其中,
所述多个孔包含狭缝。
7.根据权利要求5所述的半导体装置,其中,
所述第2盖部具有网眼状的图案,
所述多个孔包含由所述图案规定的孔。
8.根据权利要求1或2所述的半导体装置,其中,
所述分隔部件与所述容器体或者所述第1盖部一体化。
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