[发明专利]像素驱动电路以及显示面板

说明书

本申请提供一种显示面板组件及其检测方法，所述显示面板组件包括：显示面板、电路板以及连接所述显示面板和电路板的覆晶薄膜；所述覆晶薄膜上设置有多个第一测试引脚、多个第二测试引脚以及第一短接线，所述显示面板上设置有第二短接线；其中，所述电路板上还设置有与多个所述第一测试引脚一一对应且连接的多个第一测试点，以及与多个所述第二测试引脚一一对应且连接的多个第二测试点，所述第一短接线用于短接多个所述第一测试引脚，所述第二短接线用于短接多个所述第二测试引脚。本申请提供的显示面板组件及其检测方法能够显示面板组件的生产效率。

技术领域

本申请涉及显示技术领域，具体涉及一种像素驱动电路以及显示面板。

背景技术

覆晶薄膜(Chip On Film，COF)是指将电子元器件和电路做在薄膜上，为了判断COF是否与显示面板或者电路板绑定成功，一般会检测导电粒子个数，并根据导电离子的个数判断COF是否与显示面板或者电路板绑定成功。

然而，导电粒子的检测需要花费大量的时间，因此，降低了显示面板组件的生产效率。

发明内容

本申请实施例提供一种显示面板组件及其检测方法，能够提高显示面板组件的生产效率。

第一方面，本申请提供了一种显示面板组件，包括：显示面板、电路板以及连接所述显示面板和电路板的覆晶薄膜；

所述覆晶薄膜上设置有多个第一测试引脚、多个第二测试引脚以及第一短接线，所述显示面板上设置有第二短接线；

其中，所述电路板上还设置有与多个所述第一测试引脚一一对应且连接的多个第一测试点，以及与多个所述第二测试引脚一一对应且连接的多个第二测试点，所述第一短接线用于短接多个所述第一测试引脚，所述第二短接线用于短接多个所述第二测试引脚。

在本申请所提供的显示面板组件中，所述覆晶薄膜在第一向上具有相对的第一端和第二端，所述第一端绑定在所述基板上，所述第二端绑定在所述电路板上。

在本申请所提供的显示面板组件中，所述第一测试引脚包括第一子测试引脚、第二子测试引脚以及第一连接线，所述第二测试引脚包括第三次测试引脚、第四子测试引脚以及第二连接线；

其中，所述第一子测试引脚设置在所述第一端上，所述第二子测试引脚设置在所述第二端上，所述第一子测试引脚通过所述第一连接线与所述第二子测试引脚连接；

所述第三子测试引脚设置在所述第一端上，所述第四子测试引脚设置在所述第二端上，所述第三子测试引脚通过所述第二连接线与所述第四子测试引脚连接。

在本申请所提供的显示面板组件中，每个所述第一子测试引脚均对应一个所述第一测试点，每个所述第三子测试引脚均对应一个所述第二测试点。

在本申请所提供的显示面板组件中，所述第一测试点和第二测试点均为漏铜测试点。

在本申请所提供的显示面板组件中，所述第一测试引脚设置在所述覆晶薄膜的一侧，所述第二测试引脚设置在所述覆晶薄膜的另一侧。

在本申请所提供的显示面板组件中，所述覆晶薄膜包括沿第一方向排列的第一覆晶薄膜、第二覆晶薄膜以及第三覆晶薄膜；

其中，所述第一短接线以及第一测试引脚设置在所述第一覆晶薄膜上，所述第二测试引脚设置在所述第三覆晶薄膜上，所述第二短接线设置在所述显示面板且靠近所述第三覆晶薄膜的一端上。

第二方面，本申请提供一种显示面板组件的检测方法，包括：

提供一显示面板组件，所述显示面板组件包括显示面板、电路板、覆晶薄膜、多个第一测试引脚、多个第二测试引脚、第一短接线以及第二短接线；

检测所述覆晶薄膜的阻抗值；