[发明专利]像素驱动电路以及显示面板

权利要求书

1.一种显示面板组件，其特征在于，包括：显示面板、电路板以及连接所述显示面板和电路板的覆晶薄膜；

所述覆晶薄膜上设置有多个第一测试引脚、多个第二测试引脚以及第一短接线，所述显示面板上设置有第二短接线；

其中，所述电路板上还设置有与多个所述第一测试引脚一一对应且连接的多个第一测试点，以及与多个所述第二测试引脚一一对应且连接的多个第二测试点，所述第一短接线用于短接多个所述第一测试引脚，所述第二短接线用于短接多个所述第二测试引脚。

2.根据权利要求1所述的显示面板组件，其特征在于，所述覆晶薄膜在第一方向上具有相对的第一端和第二端，所述第一端绑定在所述显示面板上，所述第二端绑定在所述电路板上。

3.根据权利要求2所述的显示面板组件，其特征在于，所述第一测试引脚包括第一子测试引脚、第二子测试引脚以及第一连接线，所述第二测试引脚包括第三次测试引脚、第四子测试引脚以及第二连接线；

其中，所述第一子测试引脚设置在所述第一端上，所述第二子测试引脚设置在所述第二端上，所述第一子测试引脚通过所述第一连接线与所述第二子测试引脚连接；

所述第三子测试引脚设置在所述第一端上，所述第四子测试引脚设置在所述第二端上，所述第三子测试引脚通过所述第二连接线与所述第四子测试引脚连接。

4.根据权利要求3所述的显示面板组件，其特征在于，每个所述第二子测试引脚均对应一个所述第一测试点，每个所述第四子测试引脚均对应一个所述第二测试点。

5.根据权利要求4所述的显示面板组件，其特征在于，所述第一测试点和第二测试点均为漏铜测试点。

6.根据权利要求1所述的显示面板组件，其特征在于，所述第一测试引脚设置在所述覆晶薄膜的一侧，所述第二测试引脚设置在所述覆晶薄膜的另一侧。

7.根据权利要求1所述的显示面板组件，其特征在于，所述覆晶薄膜包括沿第一方向排列的第一覆晶薄膜、第二覆晶薄膜以及第三覆晶薄膜；

其中，所述第一短接线以及第一测试引脚设置在所述第一覆晶薄膜上，所述第二测试引脚设置在所述第三覆晶薄膜上，所述第二短接线设置在所述显示面板且靠近所述第三覆晶薄膜的一端上。

8.一种显示面板组件的检测方法，其特征在于，包括：

提供一显示面板组件，所述显示面板组件包括显示面板、电路板、覆晶薄膜、多个第一测试引脚、多个第二测试引脚、第一短接线以及第二短接线；

检测所述覆晶薄膜的阻抗值；

根据所述覆晶薄膜的阻抗值，生成所述显示面板的阻抗值以及所述电路板的阻抗值；

根据所述显示面板的阻抗值以及所述电路板的阻抗值，确定所述覆晶薄膜与所述显示面板的绑定结果以及所述覆晶薄膜与所述电路板的绑定结果。

9.根据权利要求8所述的检测方法，其特征在于，所述根据所述覆晶薄膜的阻抗值，生成所述显示面板的阻抗值以及所述电路板的阻抗值，包括：

检测所述第一测设点的阻抗值，生成所述电路板的阻抗值；

检测所述第二测设点的阻抗值；

计算所述第一测设点的阻抗值与所述第二测设点的阻抗值之间的差值，生成所述显示面板的阻抗值。

10.根据权利要求8所述的检测方法，其特征在于，所述根据所述显示面板的阻抗值以及所述电路板的阻抗值，确定所述覆晶薄膜与所述显示面板的绑定结果以及所述覆晶薄膜与所述电路板的绑定结果，包括：

判断所述电路板的阻抗值是否大于第一阈值；

当所述电路板的阻抗值大于第一阈值时，判断所述显示面板的阻抗值是否大于第二阈值；

当所述显示面板的阻抗值大于第二阈值时，确定所述覆晶薄膜与所述显示面板绑定成功，以及确定所述覆晶薄膜与所述电路板绑定成功。