[发明专利]处理基板的边缘光刻胶去除系统和方法在审
| 申请号: | 201910912190.7 | 申请日: | 2019-09-25 |
| 公开(公告)号: | CN110941152A | 公开(公告)日: | 2020-03-31 |
| 发明(设计)人: | 鲁多维奇·拉塔德;赖纳·泰格斯 | 申请(专利权)人: | 苏斯微技术光刻有限公司 |
| 主分类号: | G03F7/42 | 分类号: | G03F7/42 |
| 代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 王小衡;王天鹏 |
| 地址: | 德国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 处理 边缘 光刻 去除 系统 方法 | ||
1.一种用于处理基板(12)的边缘光刻胶去除系统(10),包括:
边缘光刻胶去除头(20),其具有主体(22)和从所述主体(22)突出的两个臂(24),
其中,所述臂(24)彼此隔开,以在它们之间限定了用于容纳待处理的基板(12)的接收空间(26),
其中,所述臂(24)各自具有彼此面对的功能表面(36),并且
其中,所述功能表面(36)各自包括至少一个流体出口(38)。
2.根据权利要求1所述的边缘光刻胶去除系统(10),其中,所述至少一个流体出口(38)被分配给喷嘴。
3.根据权利要求1或2所述的边缘光刻胶去除系统(10),其中,所述至少一个流体出口(38)与嵌入在所述边缘光刻胶去除头(20)中的氮气线(42)连接。
4.根据前述权利要求中的任一项所述的边缘光刻胶去除系统(10),其中,所述至少一个流体出口(38)与嵌入在所述边缘光刻胶去除头(20)中的溶剂线(46)连接。
5.根据前述权利要求中的任一项所述的边缘光刻胶去除系统(10),其中,每个功能表面(36)具有至少两个流体出口(38)。
6.根据前述权利要求中任一项所述的边缘光刻胶去除系统(10),其中,所述至少一个流体出口(38)相对于相应的功能表面(36)倾斜。
7.根据前述权利要求中任一项所述的边缘光刻胶去除系统(10),其中,所述主体(22)包括分配给所述接收空间(26)的排出口(52),其中,所述排出口(52)被连接到真空源(54)。
8.根据前述权利要求中任一项所述的边缘光刻胶去除系统(10),其中,所述边缘光刻胶去除头(20)包括边缘传感器(56),所述边缘传感器(56)被配置为感测所述待处理的基板(12)的边缘。
9.根据前述权利要求中任一项所述的边缘光刻胶去除系统(10),其中,所述边缘光刻胶去除系统(10)包括与所述边缘光刻胶去除头(20)连接的线性驱动器(58)。
10.根据前述权利要求中任一项所述的边缘光刻胶去除系统(10),其中,所述边缘光刻胶去除系统(10)包括边缘光刻胶去除卡盘(16),其具有用于保持所述待处理的基板(12)的处理表面(18),特别是其中所述处理表面(18)的直径至多为280mm。
11.根据前述权利要求中的任一项所述的边缘光刻胶去除系统(10),其中,所述边缘光刻胶去除头(20)包括距离调节单元(62),所述距离调节单元被配置为调节所述臂(24)之间的距离,使得所述接收空间(26)的体积是可调节的。
12.根据前述权利要求中任一项所述的边缘光刻胶去除系统(10),其中,所述边缘光刻胶去除系统(10)被配置为在水平方向上移动所述边缘光刻胶去除头(20),以便保持所述至少一个流体出口(38)相对于所述基板(12)的边缘的水平距离恒定。
13.一种处理基板(12)的方法,包括以下步骤:
-提供边缘光刻胶去除系统(10),特别是根据前述权利要求中任一项所述的边缘光刻胶去除系统(10),其具有边缘光刻胶去除头(20),所述边缘光刻胶去除头(20)在所述边缘光刻胶去除头(20)的两个臂(24)之间提供接收空间(26),
-提供待处理的基板(12),并且
-定位所述边缘光刻胶去除头(20)和所述基板(12),使得所述基板(12)被容纳在所述边缘光刻胶去除头(20)的臂(24)之间的接收空间(26)中。
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