[发明专利]一种用于芯片测试的显示方法、装置、存储介质及终端

权利要求书

1.一种用于芯片测试的显示方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1、获取芯片中晶粒的位置参数及测试结果，其中：所述位置参数包括所述晶粒在所述芯片中的二维坐标；

S2、根据获取的所述位置参数生成二维图形，其中：所述二维图形包括多个显示单元，所述显示单元在所述二维图形中的坐标位置与所述晶粒的所述位置参数对应；

S3、根据获取的所述测试结果确定所述显示单元的显示效果。

2.根据权利要求1所述的显示方法，其特征在于，在步骤S3之后，还包括：

S4、根据获取的所述测试结果，确定有效的所述晶粒的总数量。

3.根据权利要求1所述的显示方法，其特征在于，步骤S1包括：

S101、利用探针卡对所述芯片进行测试，以获取所述测试结果，其中：所述探针卡包括探针，所述探针与所述晶粒一一对应；

S102、获取所述探针卡的所述探针的坐标；

S103、根据所述探针的坐标确定所述晶粒的二维坐标。

4.根据权利要求1所述的显示方法，其特征在于，步骤S2包括：

S201、根据获取的所述位置参数，确定所述二维图形的边界和所述晶粒的分布；

S202、根据所述二维图形的边界和所述晶粒的分布，确定单个所述晶粒所对应的所述显示单元的数量；

S203、由数量确定的所述显示单元在所述二维图形的边界内生成所述二维图形。

5.根据权利要求1所述的显示方法，其特征在于，所述显示单元的显示效果为：以不同的颜色来显示；其中，

步骤S3包括：

S301、获取所述晶粒的所述测试数据的阈值；

S302、根据获取的所述测试数据的阈值和所述测试数据，确定所述显示单元的颜色。

6.一种用于芯片测试的显示装置，其特征在于，包括：获取模块、处理模块和显示模块；

所述获取模块与所述处理模块电性连接，所述处理模块与所述显示模块电性连接；其中，

所述获取模块用于获取芯片中晶粒的所述位置参数和所述测试结果；

所述处理模块用于对获取的所述测试结果进行处理，并确定所述显示单元的显示效果；

所述显示模块用以对芯片测试的结果进行显示。

7.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至5中任意一项所述的显示方法。

8.一种终端，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至5中任意一项所述的显示方法。