[发明专利]交联副产物残留量检测方法

权利要求书

1.一种交联副产物残留量检测方法，用于检测交联电联绝缘线芯中的交联副产物的残留量，所述绝缘线芯包括绝缘层，其特征在于，所述方法包括以下步骤：

步骤1，对交联电缆绝缘线芯进行去气处理，获得去气后绝缘线芯；

步骤2，截取一段去气后的绝缘线芯作为样品，沿着样品圆周进行环向切片，然后沿着绝缘层径向处取样以获得绝缘层不同位置的样片，并将样片置于恒温恒湿的环境；

步骤3，将样片放入热失重分析仪进行检测，设定检测时长，将检测温度快速升高至设定温度，通过所述热失重分析仪得到所述样片质量在设定温度下进行随时间的变化曲线；

步骤4，通过所述变化曲线计算所述样片损失的质量，以检测绝缘层不同位置的交联副产物残留量，进而验证去气效果。

2.根据权利要求1所述的交联副产物残留量检测方法，其特征在于，所述步骤2中的取样包括以下步骤：截取一段所述绝缘线芯，沿着所述绝缘线芯的圆周进行环向切片得到第一样片，然后沿着所述第一样片径向将所述绝缘层依次划分为多个取样层，并沿着每一取样层圆周方向取样得到第二样片。

3.根据权利要求2所述的交联副产物残留量检测方法，其特征在于，所述取样层的数量为至少为3个。

4.根据权利要求3所述的交联副产物残留量检测方法，其特征在于，所述第一样片的厚度范围为1mm至2mm。

5.根据权利要求2所述的交联副产物残留量检测方法，其特征在于，每一取样层的取样得到的第二样片数量至少为3个。

6.根据权利要求5所述的交联副产物残留量检测方法，其特征在于，所述第二样片的质量的范围为15mg至25mg。

7.根据权利要求1所述的交联副产物残留量检测方法，其特征在于，所述步骤4中的设定温度范围为170℃至180℃。

8.根据权利要求1所述的交联副产物残留量检测方法，其特征在于，所述步骤4中的设定时长范围为20min至40min。

9.根据权利要求1所述的交联副产物残留量检测方法，其特征在于，所述步骤2中的恒温恒湿的环境的温度范围为15℃至25℃，湿度范围为45％至60％。

10.根据权利要求2所述的交联副产物残留量检测方法，其特征在于，所述步骤4中的计算包括以下步骤：每一取样层取样得到的第二样片的数量为n，每一第二样片的初始质量为W₁，经过所述热失重分析加热稳定后的质量为W₂，通过如下公式计算每一取样层交联电缆的交联反应副产物残留量的平均值A：A＝[(W₁-W₂)/W₁×100％]/n。