[发明专利]缺陷检测方法、装置及存储介质

说明书

本申请提出一种缺陷检测方法、装置及存储介质，其中方法包括：获取生产线上待检测对象的至少一个检测图像以及对应的检测点位置；获取缺陷图像库；针对每个检测图像，将检测图像和各个种类的缺陷图像输入预设的缺陷检测模型，获取检测图像的缺陷信息；根据每个检测图像的缺陷信息以及对应的检测点位置，生成待检测对象的缺陷检测结果，该方法通过将待检测对象的检测图像和各个种类的缺陷图像输入预设的缺陷检测模型，获取检测图像的缺陷信息，之后，根据每个检测图像的缺陷信息以及对应的检测点位置，自动生成待检测对象的缺陷检测结果，由此，可实现缺陷的自动分类，节约了人力成本，同时减少错判漏判，提高了检测效率。

技术领域

本申请涉及图像处理技术领域，尤其涉及一种缺陷检测方法、装置及非临时性计算机可读存储介质。

背景技术

在生产制造的过程中，生产对象难免产生大量缺陷。为了保证生产对象的质量，需要对生产对象进行缺陷检测。

目前，主要采用光学检测设备对生产对象进行检测获取检测图像，然后由人员手动进行缺陷分类。但是，人工手动进行缺陷分类，缺陷错判漏判率高，人工成本较高，同时检测效率低。

发明内容

本申请的目的旨在至少在一定程度上解决上述的技术问题之一。

为此，本申请的第一个目的在于提出一种缺陷检测方法，该方法通过将待检测对象的检测图像和各个种类的缺陷图像输入预设的缺陷检测模型，获取检测图像的缺陷信息，之后，根据每个检测图像的缺陷信息以及对应的检测点位置，自动生成待检测对象的缺陷检测结果，由此，可实现缺陷的自动分类，节约了人力成本，同时减少错判漏判，提高了检测效率。

本申请的第二个目的在于提出一种缺陷检测装置。

本申请的第三个目的在于提出另一种缺陷检测装置。

本申请的第四个目的在于提出一种非临时性计算机可读存储介质。

为达上述目的，本申请第一方面实施例提出了一种缺陷检测方法，包括：获取生产线上待检测对象的至少一个检测图像以及对应的检测点位置；获取缺陷图像库，缺陷图像库包括：待检测对象的各个种类的缺陷图像；针对每个检测图像，将检测图像和各个种类的缺陷图像输入预设的缺陷检测模型，获取检测图像的缺陷信息，缺陷信息包括：是否有缺陷，以及缺陷种类；根据每个检测图像的缺陷信息以及对应的检测点位置，生成待检测对象的缺陷检测结果。

本申请实施例的缺陷检测方法，通过获取生产线上待检测对象的至少一个检测图像以及对应的检测点位置；获取缺陷图像库，缺陷图像库包括：待检测对象的各个种类的缺陷图像；针对每个检测图像，将检测图像和各个种类的缺陷图像输入预设的缺陷检测模型，获取检测图像的缺陷信息，缺陷信息包括：是否有缺陷，以及缺陷种类；根据每个检测图像的缺陷信息以及对应的检测点位置，生成待检测对象的缺陷检测结果。该方法通过将待检测对象的检测图像和各个种类的缺陷图像输入预设的缺陷检测模型，获取检测图像的缺陷信息，之后，根据每个检测图像的缺陷信息以及对应的检测点位置，自动生成待检测对象的缺陷检测结果，由此，可实现缺陷的自动分类，节约了人力成本，同时减少错判漏判，提高了检测效率。

为达上述目的，本申请第二方面实施例提出了一种缺陷检测装置，包括：获取模块，用于获取生产线上待检测对象的至少一个检测图像以及对应的检测点位置；获取模块，还用于获取缺陷图像库，缺陷图像库包括：待检测对象的各个种类的缺陷图像；输入模块，用于针对每个检测图像，将检测图像和各个种类的缺陷图像输入预设的缺陷检测模型，获取检测图像的缺陷信息，缺陷信息包括：是否有缺陷，以及缺陷种类；生成模块，用于根据每个检测图像的缺陷信息以及对应的检测点位置，生成待检测对象的缺陷检测结果。