[发明专利]缺陷检测方法、装置及存储介质

权利要求书

1.一种缺陷检测方法，其特征在于，包括：

获取生产线上待检测对象的至少一个检测图像以及对应的检测点位置；

获取缺陷图像库，所述缺陷图像库包括：所述待检测对象的各个种类的缺陷图像；

针对每个检测图像，将所述检测图像和各个种类的缺陷图像输入预设的缺陷检测模型，获取所述检测图像的缺陷信息，所述缺陷信息包括：是否有缺陷，以及缺陷种类；

根据每个检测图像的缺陷信息以及对应的检测点位置，生成所述待检测对象的缺陷检测结果；

所述根据每个检测图像的缺陷信息以及对应的检测点位置，生成所述待检测对象的缺陷检测结果之后，还包括：

获取缺陷检测结果集合，所述缺陷检测结果集合包括：大于预设数量的待检测对象的缺陷检测结果；

根据所述缺陷检测结果集合，确定生产线上待调整的参数并进行调整。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述缺陷图像库中每个种类的缺陷图像的数量为多个，多个缺陷图像中的缺陷尺寸信息不同；

对应的，所述缺陷信息还包括：缺陷尺寸信息。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预设的缺陷检测模型对所述检测图像的处理过程为，

提取所述检测图像的特征信息；

提取各个种类的缺陷图像的特征信息；

将所述检测图像的特征信息与各个种类的缺陷图像的特征信息进行比对，确定所述检测图像属于各个缺陷种类的概率；

确定所述概率中的最大概率，根据所述最大概率确定所述检测图像中是否存在缺陷；

在所述检测图像中存在缺陷时，将所述最大概率对应的缺陷种类确定为所述检测图像的缺陷种类。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述针对每个检测图像，将所述检测图像和各个种类的缺陷图像输入预设的缺陷检测模型，获取所述检测图像的缺陷信息之前，还包括：

针对每个检测图像，将所述检测图像与对应的检测点位置的无缺陷图像进行比对，确定所述检测图像是否存在缺陷；

对应的，所述针对每个检测图像，将所述检测图像和各个种类的缺陷图像输入预设的缺陷检测模型，获取所述检测图像的缺陷信息，包括：

针对存在缺陷的每个检测图像，将所述检测图像和各个种类的缺陷图像输入预设的缺陷检测模型，获取所述检测图像的缺陷信息。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据每个检测图像的缺陷信息以及对应的检测点位置，生成所述待检测对象的缺陷检测结果之后，还包括：

根据所述待检测对象的缺陷检测结果，确定所述待检测对象是否合格；

在所述待检测对象不合格时，提示人员对所述待检测对象进行处理。

6.一种缺陷检测装置，其特征在于，包括：

获取模块，用于获取生产线上待检测对象的至少一个检测图像以及对应的检测点位置；

所述获取模块，还用于获取缺陷图像库，所述缺陷图像库包括：所述待检测对象的各个种类的缺陷图像；

输入模块，用于针对每个检测图像，将所述检测图像和各个种类的缺陷图像输入预设的缺陷检测模型，获取所述检测图像的缺陷信息，所述缺陷信息包括：是否有缺陷，以及缺陷种类；

生成模块，用于根据每个检测图像的缺陷信息以及对应的检测点位置，生成所述待检测对象的缺陷检测结果；

调整模块，用于获取缺陷检测结果集合，所述缺陷检测结果集合包括：大于预设数量的待检测对象的缺陷检测结果；根据所述缺陷检测结果集合，确定生产线上待调整的参数并进行调整。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述缺陷图像库中每个种类的缺陷图像的数量为多个，多个缺陷图像中的缺陷尺寸信息不同；

对应的，所述缺陷信息还包括：缺陷尺寸信息。

8.一种缺陷检测装置，其特征在于，包括：

存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现如权利要求1-5中任一所述的缺陷检测方法。

9.一种非临时性计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现如权利要求1-5中任一所述的缺陷检测方法。