[发明专利]一种减小土壤含水率对多环芳烃荧光工作曲线影响的校正方法

说明书

本发明属于检测方法领域，涉及土壤内多环芳烃的检测，尤其是一种减小土壤含水率对多环芳烃荧光工作曲线影响的校正方法，包括如下步骤，步骤1：选取多个不同含水率的土壤样本，并针对土壤样本制备多个不同浓度多环芳烃的土壤样品；步骤2：建立相应多环芳烃浓度矩阵C；步骤3：扫描土壤样品制备荧光谱和近红外漫反射光谱；步骤4：选定定量荧光谱带M；步骤5：选定近红外漫反射光谱带N；步骤6：得到相应荧光强度矩阵F；步骤7：得到相应近红外漫反射强度矩阵S；步骤8：得到每个土壤样品的校正荧光强度矩阵F_c；步骤9：建立校正工作曲线。

技术领域

本发明属于检测方法领域，涉及土壤中多环芳烃的检测，尤其是一种减小土壤含水率对多环芳烃荧光工作曲线影响的校正方法。

背景技术

众所周知，多环芳烃(PAHs)具有致癌性，而土壤作为一种重要的环境介质，多环芳烃污染问题尤为严重，严重影响了土壤的可持续发展，就需要修复和治理，但前提是需要明确土壤中多环芳烃的分布和浓度。目前对于土壤中PAHs，主要采用气相、液相、气质联用等方法，但这些方法多是将土壤样品经过复杂的前处理进行分离提纯，再进行分析，操作繁琐，且需要大量的有机试剂，费时费力，且不能保证将PAHs全部抽提出来，不能满足全面普查、动态监测土壤污染状况的需求。因此，开发一种便捷、快速土壤中PAHs的检测方法已成为环保和农业部门亟需解决的重大问题之一。

荧光光谱技术由于灵敏度高、选择性好，可实现快速、现场检测等优点，已经被广泛应用于土壤中多环芳烃的检测。中国发明专利申请公开号CN106442447 A公开了一种减小土壤粒径对多环芳烃工作曲线的影响，通过瑞利散射光强度实现土壤粒径对PAHs荧光强度影响的有效校正。本发明是针对土壤粒径对PAHs荧光的影响，提出并建立一种减小土粒径对PAHs荧光工作曲线的校正方法。

但除土壤粒径外，土壤含水率等因素也会对PAHs的荧光强度造成严重影响，这就制约了该技术在土壤PAHs污染物检测中的应用，为此应建立一种减小土壤含水率对多环芳烃工作曲线影响的校正方法。

发明内容

针对现有技术中存在的不足，本发明提供一种将荧光光谱技术和近红外漫反射光谱技术相结合，为现场检测土壤中多环芳烃提供理论和实验基础的减小土壤含水率对多环芳烃荧光工作曲线影响的校正方法。

本发明采取的技术方案是：

一种减小土壤含水率对多环芳烃荧光工作曲线影响的校正方法，其特征在于：包括如下步骤：

步骤1：选取多个不同含水率的土壤样品，并针对土壤样本制备多个不同浓度多环芳烃的土壤样品；

步骤2：根据步骤1中不同含水率多环芳烃的土壤样品，建立相应多环芳烃浓度矩阵C；

步骤3：扫描步骤1中制备的每个土壤样品制备相应的荧光谱和近红外漫反射光谱,得到每个土壤样品的荧光谱和近红外漫反射光谱；

步骤4：对于步骤3中的荧光谱，选定用于建立定量分析多环芳烃工作曲线的荧光谱带M；

步骤5：对于步骤3中的近红外漫反射光谱，选定用于校正工作曲线的近红外漫反射光谱带N；

步骤6：提取步骤4中定量荧光谱带M处的荧光强度，得到相应荧光强度矩阵F；

步骤7：提取步骤5中近红外漫反射谱带N的强度，得到相应近红外漫反射强度矩阵S；

步骤8：通过步骤7中所提取的近红外漫反射强度矩阵S对步骤6中所提取的荧光强度矩阵F进行校正，即得到每个土壤样品的校正荧光强度矩阵F_c；

步骤9：根据步骤7得到的校正荧光强度矩阵F_c和步骤2中建立的多环芳烃浓度矩阵C，建立校正工作曲线。

进一步的，所述土壤样品的含水率范围为0-35％。