[发明专利]一种光模块多通道测试系统

说明书

本发明公开了一种光模块多通道测试系统，包括带CDR的标准光模块、32通道光开关、状态显示灯、待测模块、电流采集芯片、MCU、8路电流驱动芯片和模块调测试状态指示灯，所述带CDR的标准光模块通过光纤跳线与所述32通道光开关连接。本发明中，在常温调测试时，调测试人员可以短时间离开，去进行其他产品的调测试，待此组待测模块测试完成后，只需要根据模块调测试状态指示灯来判断待测模块的调测试状态，而在高低温测试时，由于16支待测模块一直处于供电状态，所以只需要等待一段时间后，16支待测模块便均可以开始进行测试，这样可以大大节约测试时间，同时提高测试一致性。

技术领域

本发明涉及光通信技术领域，尤其涉及一种光模块多通道测试系统。

背景技术

随着光通信技术及物联网的迅猛发展，光模块作为网络互联互通的核心部件，在越来越多的领域得到了大规模应用，光模块中使用的关键物料-光器件，其性能参数受温度的影响较大，为了检验光模块的性能在高低温环境下是否满足使用要求，一般会对光模块进行高低温性能测试，而现阶段的单通道测试系统，由于光器件的温度特性，在测试时的测试效率一般不高。

在常温调测试时，每次测试完成后，都需要手动更换下一只待测模块，需要测试人员一直坐在测试系统前，无法进行其他操作；若是进行高低温测试则每一只光模块都需要单独等待一段时间，在待测试的光模块数量较少时，该方法还可能适用，但是当光模块数量较多时，该测试系统则显得效率很低，因为在进行模块温度测试时，对模块进行性能测试上所花费的时间较少，反而是在模块工作稳定状态的等待上浪费了较多时间，如果能够在不打开箱门的前提下单次进行多只模块的性能测试，则相当于大大减少了每只模块的温度等待时间，可以大大加快测试速度，满足生产和科研的要求。

发明内容

本发明的目的在于：为了解决传统的光模块的高低温性能测试效率较低的问题，而提出的一种光模块多通道测试系统。

为了实现上述目的，本发明采用了如下技术方案：

一种光模块多通道测试系统，包括带CDR的标准光模块、32通道光开关、状态显示灯、待测模块、电流采集芯片、MCU、8路电流驱动芯片和模块调测试状态指示灯，所述带CDR的标准光模块通过光纤跳线与所述32通道光开关连接，且所述32通道光开关将标准光源与所述32个待测模块连接，所述MCU通过两个所述8路IIC拓展芯片拓展成16路，所述MCU通过控制所述第二8路I/O口拓展芯片对所述待测模块的TX Disable脚进行拉高或者拉低，所述MCU通过控制所述第三8路I/O口拓展芯片增加所述8路电流驱动芯片驱动能力，所述8路电流驱动芯片，所述8路电流驱动芯片的高低电平输出用于完成不同所述模块调测试状态指示灯的状态控制。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述待测模块的TX Fault、RX LOS、TX Disable的状态通过状态显示灯显示出来。

作为上述技术方案的进一步描述：

通过所述MCU读取待测模块在位状态和LOS状态。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述MCU通过第一8路I/O口拓展芯片对所述待测模块的供电开关的进行控制。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述电流采集芯片采集到的电压流入到所述8路ADC转换芯片。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述MCU读取所述8路ADC转换芯片中的AD值，并转换成对应的所述待测模块电流值。

综上所述，由于采用了上述技术方案，本发明的有益效果是：