[发明专利]一种光模块多通道测试系统在审
| 申请号： | 201910875606.2 | 申请日： | 2019-09-17 |
| 公开（公告）号： | CN110445538A | 公开（公告）日： | 2019-11-12 |
| 发明（设计）人： | 黄健轩 | 申请（专利权）人： | 成都芯瑞科技股份有限公司 |
| 主分类号： | H04B10/079 | 分类号： | H04B10/079 |
| 代理公司： | 成都瑞创华盛知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 51270 | 代理人： | 邓瑞 |
| 地址： | 610200 四川省成都市双*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 待测模块 测试 测试状态 指示灯 多通道测试系统 标准光 光开关 光模块 电流驱动芯片 高低温测试 状态显示灯 电流采集 供电状态 光纤跳线 芯片 节约 | ||
1.一种光模块多通道测试系统，其特征在于，包括带CDR的标准光模块(1)、32通道光开关(2)、状态显示灯(3)、待测模块(4)、电流采集芯片(5)、MCU(10)、8路电流驱动芯片(12)和模块调测试状态指示灯(13)；
带CDR的标准光模块(1)：通过光纤跳线与32通道光开关(2)连接，且32通道光开关(2)将标准光源与32个待测模块(4)连接；
MCU(10)：MCU(10)通过两个8路IIC拓展芯片(7)拓展成16路；MCU(10)通过控制第二8路I/O口拓展芯片(8)对待测模块(4)的TX Disable脚进行拉高或者拉低；MCU(10)通过控制第三8路I/O口拓展芯片(11)增加8路电流驱动芯片(12)驱动能力；
8路电流驱动芯片(12)：8路电流驱动芯片(12)的高低电平输出用于完成不同模块调测试状态指示灯(13)的状态控制。
2.根据权利要求1所述的一种光模块多通道测试系统，其特征在于，所述待测模块(4)的TX Fault、RX LOS、TX Disable的状态通过状态显示灯(3)显示出来。
3.根据权利要求2所述的一种光模块多通道测试系统，其特征在于，通过所述MCU(10)读取待测模块(4)在位状态和LOS状态。
4.根据权利要求1所述的一种光模块多通道测试系统，其特征在于，所述MCU(10)通过第一8路I/O口拓展芯片(6)对待测模块(4)的供电开关的进行控制。
5.根据权利要求4所述的一种光模块多通道测试系统，其特征在于，所述电流采集芯片(5)采集到的电压流入到8路ADC转换芯片(9)。
6.根据权利要求5所述的一种光模块多通道测试系统，其特征在于，所述MCU(10)读取8路ADC转换芯片(9)中的AD值，并转换成对应的待测模块(4)电流值。
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