[发明专利]一种信号检测电路

权利要求书

1.一种信号检测电路，其特征在于，包括：采样电路、参考电压生成电路、放大电路、模数转换器和处理器，其中，

所述采样电路，用于对输入信号进行采样，获得采样后的信号；所述采样电路包括第一MOS管、第一电阻和第二电阻，其中，所述第一MOS管的栅极通过所述第一电阻与第一电压输入端连接，所述第一MOS管的源极通过所述第二电阻与地连接，所述第一MOS管的源极还与所述放大电路的第一输入端连接，所述第一MOS管的漏极与所述输入信号的输入端连接，所述输入信号为控制导引信号；所述采样电路还包括第三电阻，其中，所述第一MOS管的漏极还通过所述第三电阻与所述控制导引信号输入端连接；

所述参考电压生成电路，用于根据所述处理器中存储的参考电压输出参考电压；

所述放大电路，用于根据所述采样后的信号和所述参考电压生成误差信号，对所述误差信号进行放大，获得放大后的误差信号；

所述模数转换器，用于对所述放大后的误差信号进行模数转换，获得转换后的数字信号；

所述处理器，用于根据所述数字信号和存储的参考电压值获得所述输入信号的电压值。

2.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，所述第一电压输入端为所述控制导引信号输入端。

3.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，所述参考电压生成电路包括第二MOS管、第四电阻、第五电阻，其中，

所述第二MOS管的栅极通过所述第五电阻与第二电压输入端连接，所述第二MOS管的漏极与第二电压输入端连接，所述第二MOS管的源极通过所述第四电阻与地连接，所述第二MOS管的源极还与所述放大电路的第二输入端连接。

4.根据权利要求3所述的检测电路，其特征在于，所述参考电压生成电路还包括光耦合器，其中，

所述光耦合器的发光二极管的正极与所述控制导引信号输入端连接，所述发光二极管的负极与第三电压输入端连接，所述光耦合器的光敏晶体管的射极与所述第二MOS管的漏极连接，所述光敏晶体管的集电极与第四电压输入端连接。

5.根据权利要求4所述的检测电路，其特征在于，所述参考电压生成电路还包括第六电阻和第七电阻，其中，

所述第二电压输入端通过所述第六电阻与所述光敏晶体管的射极连接，所述第二电压输入端通过所述第七电阻与地连接。

6.根据权利要求5所述的检测电路，其特征在于，所述参考电压生成电路还包括第八电阻，其中，

所述发光二极管的负极还通过所述第三电阻与所述第三电压输入端连接。

7.根据权利要求4所述的检测电路，其特征在于，所述第三电压输入端为控制确认信号输入端。

8.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，所述放大电路包括误差放大电路、第十电阻、第十一电阻、第十二电阻和第十三电阻，其中，

所述误差放大电路的第一输入端通过所述第十电阻与所述采样电路的输出端连接，所述误差放大电路的第二输入端通过所述第十一电阻与所述参考电压生成电路的输出端连接，所述误差放大电路的输出端与所述模数转换器的输入端连接，所述误差放大电路的第一输入端还通过所述第十二电阻与所述误差放大电路的输出端连接，所述误差放大电路的第二输入端还通过所述第十三电阻与地连接。