[发明专利]探伤设备的性能评价方法、装置及电子设备

说明书

本申请公开了一种探伤设备的性能评价方法、装置及电子设备，涉及设备质量评价技术领域。其中，所述方法基于灵敏度、信噪比、准确性、稳定性及检测盲区在缺陷检测过程中的重要性，同时将待评价探伤设备的灵敏度参数、信噪比参数、准确性参数、稳定性参数及检测盲区参数等必要性能参数与预设的性能指标进行对比，以判断待评价探伤设备的各项必要性能是否满足性能指标；然后，在上述各必要性能参数中有至少一项必要性能不满足所述性能指标时，即判定待评价探伤设备不合格。通过该方法，提高了评价项目的完整性，进而提高了探伤设备性能评价结果的准确性和科学性。

技术领域

本申请涉及设备质量评价技术领域，具体而言，涉及一种探伤设备的性能评价方法、装置及电子设备。

背景技术

超声探伤设备需要对探头、探伤仪性能和组合性能进行测试、校准、核查，以评价探头、探伤仪是否具备检测能力。

目前，对于检测中厚板缺陷的自动超声探伤设备而言，除了对每个探头的性能测试可以借鉴GB/T 27664之外，还没有一个完整的、系统的指导性文件对设备的整体性能要求以及测试评价方法进行描述，而现有技术中对探伤设备进行性能评价时通常存在测试项目不完整，评价结果不准确等问题，因此导致各生产商所生产的探伤设备质量参差不齐。

发明内容

本申请实施例通过提供一种探伤设备的性能评价方法、装置及电子设备，解决了现有技术中对探伤进行性能评价时由于测试项目不完整，导致评价结果不准确的问题。

为了实现上述目的，本申请较佳实施例采用的技术方案如下：

第一方面，本申请实施例提供一种探伤设备的性能评价方法，应用于电子设备，所述方法包括：

获取待评价探伤设备的必要性能参数，所述必要性能参数包括灵敏度参数、信噪比参数、准确性参数、稳定性参数及检测盲区参数；

将所述必要性能参数与预设的性能指标进行对比，以判断所述待评价探伤设备的各项必要性能是否满足所述性能指标；

若所述必要性能参数中有至少一项必要性能不满足所述性能指标，则判定所述待评价探伤设备不合格。

可选地，在本申请的一种实施例中，所述方法还包括：

在判定所述待评价探伤设备合格时，获取所述待评价探伤设备的综合性能参数，所述综合性能参数包括测量精度参数、响应时间参数及探头间重叠率参数；

根据预设的测量精度指标、响应时间指标和探头间重叠率指标分别判定所述待评价探伤设备的测量精度、响应时间和探头间重叠率是否合格；

基于所述测量精度、响应时间和探头间重叠率的合格情况，以及所述测量精度、响应时间和探头间重叠率分别对应的预设权重，对所述待评价探伤设备的综合性能进行评分，得到所述待评价探伤设备的综合性能参数评分结果；

将所述综合性能参数评分结果与预设的综合性能指标进行对比；

若所述综合性能参数评分结果小于所述综合性能指标，则判定所述待评价探伤设备不合格。

具体地，在本申请实施例中，所述灵敏度参数包括灵敏度、灵敏度均匀性、灵敏度余量、扫查灵敏度与静态灵敏度之间的差值，所述准确性参数包括漏报率、误报率，所述稳定性参数包括灵敏度漂移量、信噪比漂移量、灵敏度余量漂移量，所述检测盲区参数包括纵向边缘盲区尺寸、前端和后端盲区尺寸、上下表面盲区尺寸；

所述将所述必要性能参数与预设的性能指标进行对比，以判断所述待评价探伤设备的各项必要性能是否满足所述性能指标的步骤，包括：

在所述灵敏度、灵敏度均匀性、灵敏度余量、扫查灵敏度与静态灵敏度之间的差值中有至少一项参数不满足预设的性能指标时，判定所述待评价探伤设备的灵敏度不合格；