[发明专利]探伤设备的性能评价方法、装置及电子设备

权利要求书

1.一种探伤设备的性能评价方法，其特征在于，应用于电子设备，所述方法包括：

获取待评价探伤设备的必要性能参数，所述必要性能参数包括灵敏度参数、信噪比参数、准确性参数、稳定性参数及检测盲区参数；

将所述必要性能参数与预设的性能指标进行对比，以判断所述待评价探伤设备的各项必要性能是否满足所述性能指标；

若所述必要性能参数中有至少一项必要性能不满足所述性能指标，则判定所述待评价探伤设备不合格；

在判定所述待评价探伤设备合格时，获取所述待评价探伤设备的综合性能参数，所述综合性能参数包括测量精度参数、响应时间参数及探头间重叠率参数；

根据预设的测量精度指标、响应时间指标和探头间重叠率指标分别判定所述待评价探伤设备的测量精度、响应时间和探头间重叠率是否合格；

基于所述测量精度、响应时间和探头间重叠率的合格情况，以及所述测量精度、响应时间和探头间重叠率分别对应的预设权重，对所述待评价探伤设备的综合性能进行评分，得到所述待评价探伤设备的综合性能参数评分结果；

将所述综合性能参数评分结果与预设的综合性能指标进行对比；

若所述综合性能参数评分结果小于所述综合性能指标，则判定所述待评价探伤设备不合格。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述灵敏度参数包括灵敏度、灵敏度均匀性、灵敏度余量、扫查灵敏度与静态灵敏度之间的差值，所述准确性参数包括漏报率、误报率，所述稳定性参数包括灵敏度漂移量、信噪比漂移量、灵敏度余量漂移量，所述检测盲区参数包括纵向边缘盲区尺寸、前端和后端盲区尺寸、上下表面盲区尺寸；

所述将所述必要性能参数与预设的性能指标进行对比，以判断所述待评价探伤设备的各项必要性能是否满足所述性能指标的步骤，包括：

在所述灵敏度、灵敏度均匀性、灵敏度余量、扫查灵敏度与静态灵敏度之间的差值中有至少一项参数不满足预设的性能指标时，判定所述待评价探伤设备的灵敏度不合格；

在所述漏报率、误报率中有至少一项参数不满足预设的性能指标时，判定所述待评价探伤设备的准确性不合格；

在所述灵敏度漂移量、信噪比漂移量、灵敏度余量漂移量中有至少一项参数不满足预设的性能指标时，判定所述待评价探伤设备的稳定性不合格；

在所述纵向边缘盲区尺寸、前端和后端盲区尺寸、上下表面盲区尺寸中有至少一项参数不满足预设的性能指标时，判定所述待评价探伤设备的检测盲区不合格。

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述测量精度参数包括尺寸测量精度、缺陷定位精度、缺陷定量精度，所述响应时间参数包括检测时间、信号处理时间；

所述根据预设的测量精度指标、响应时间指标和探头间重叠率指标分别判定所述待评价探伤设备的测量精度、响应时间和探头间重叠率是否合格的步骤，包括：

在所述尺寸测量精度、缺陷定位精度、缺陷定量精度中有至少一项参数不满足预设的测量精度指标时，判定所述待评价探伤设备的测量精度不合格；

在所述检测时间、信号处理时间中有至少一项参数不满足预设的响应时间指标时，判定所述待评价探伤设备的响应时间不合格。