[发明专利]一种产品表面缺陷的检测方法、装置及存储介质有效
申请号: | 201910831247.0 | 申请日: | 2019-09-04 |
公开(公告)号: | CN110517265B | 公开(公告)日: | 2022-03-01 |
发明(设计)人: | 孟凡武;许一尘;王立忠 | 申请(专利权)人: | 北京理工大学 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T7/66;G06T7/11;G06T7/136;G06T7/187;G06V10/77;G06K9/62 |
代理公司: | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 宋朋飞 |
地址: | 100000 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 产品 表面 缺陷 检测 方法 装置 存储 介质 | ||
本申请提供一种产品表面缺陷的检测方法、装置及存储介质,该方法包括:获取包含有待检测产品的目标图像,其中,所述待检测产品表面具有多个待检测对象;对所述目标图像进行处理,获得多张待检测图像,其中,每张待检测图像中包括待检测产品的单个待检测对象;分别计算每张待检测图像对应的d个不变矩,并根据每张待检测图像的d个不变矩与预先获得的标准产品图像对应的d个标准不变矩,对所述待检测产品进行表面缺陷检测。本申请实施例针对表面具有多个待检测对象的被加工产品能够实现快速、简便的表面缺陷检测,不需要人工逐个进行辨认,检测效率更高。
技术领域
本申请涉及图像处理技术领域,具体而言,涉及一种产品表面缺陷的检测方法、装置及存储介质。
背景技术
现有的被加工产品表面的缺陷检测大多采取人工逐个仔细观察的方法,当发现产品表面具有缺陷时,及时将缺陷产品拿出,将其归入加工失败区域。对于表面光滑的产品,在光线的反射下,出现缺陷的部分与非缺陷的部分差别较大,人工易于分辨,但是具有一定纹理变化的产品,比如表面具有多个需观察的对象,人工辨认难度加大,并且密集的对象会加快眼睛疲劳,增加工作难度。
发明内容
本申请实施例的目的在于提供一种产品表面缺陷的检测方法、装置及存储介质,通过拍摄有待检测产品的图像能够实现表面缺陷的快速检测,从而解决上述技术问题。
第一方面,本申请实施例提供一种产品表面缺陷的检测方法,所述方法包括:获取包含有待检测产品的目标图像,其中,所述待检测产品表面具有多个待检测对象;对所述目标图像进行处理,获得多张待检测图像,其中,每张待检测图像中包括待检测产品的单个待检测对象;分别计算每张待检测图像对应的d个不变矩,并根据每张待检测图像的d个不变矩与预先获得的标准产品图像对应的d个标准不变矩,对所述待检测产品进行表面缺陷检测,其中,d为正整数。
上述方案中,对于表面具有多个待检测对象的待检测产品,首先得到包括单个待检测对象的待检测图像,然后利用表征图像几何特征的不变矩对待检测图像中是否存在缺陷进行判别。本方案以待检测图像的结构变化为依据,能够根据图像将有缺陷的产品直接挑选出来,相较于人工检测的方式更加快速和简便,检测效率明显更高,同时,该方法可以无需知道造成缺陷的原因以及缺陷的种类、形状、大小等预信息,即可直接检测产品的缺陷,通用性强。
在一种可能的实施方式中,所述多个待检测对象的形状相同,根据每张待检测图像的d个不变矩与预先获得的标准产品图像对应的d个标准不变矩,对所述待检测产品进行表面缺陷检测,包括:分别计算每张待检测图像的d个不变矩相对于所述d个标准不变矩的方差;若所述多张待检测图像中的任一张待检测图像的方差大于第一阈值,则确定所述待检测产品存在表面缺陷。
方差表示待检测图像的不变矩相对于标准不变矩的偏离程度,当任一张待检测图像的方差大于第一阈值,表明其中待检测对象与无表面缺陷的对象具有明显差别,即可确定该待检测产品存在缺陷。
在一种可能的实施方式中,所述多个待检测对象的形状相同,所述对所述目标图像进行处理,获得多张待检测图像,包括:对所述目标图像进行阈值分割,获得K1个连通区域,并从所述K1个连通区域中确定出满足第一预设要求的K2个连通区域,其中,所述第一预设要求与所述连通区域的形状参数相关,K1、K2为正整数,且K1K2;确定K2个连通区域中每一连通区域的质心,并根据每一质心映射至所述目标图像的位置,得到K2张目标分割图像;从所述K2张目标分割图像中确定出满足第二预设要求的K3张待检测图像,其中,第二预设要求与所述目标分割图像的纹理信息相关,K3为正整数,且K2K3。
上述方案中,通过设置第一预设要求,能够滤除与待检测对象形成的连通区域形状差别较大的连通区域,达到初步筛除的作用,通过设置第二预设要求,能够滤除与待检测对象纹理差别较大的图像,达到二次筛除的作用,最终逐步分离出待检测对象所对应的待检测图像。
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