[发明专利]一种产品表面缺陷的检测方法、装置及存储介质

权利要求书

1.一种产品表面缺陷的检测方法，其特征在于，所述方法包括：

获取包含有待检测产品的目标图像，其中，所述待检测产品表面具有多个待检测对象；

对所述目标图像进行处理，获得多张待检测图像，其中，每张待检测图像中包括待检测产品的单个待检测对象，所述多个待检测对象的形状相同；

所述对所述目标图像进行处理，获得多张待检测图像，包括：

对所述目标图像进行阈值分割，获得K1个连通区域，并从所述K1个连通区域中确定出满足第一预设要求的K2个连通区域，其中，所述第一预设要求与所述连通区域的形状参数相关，K1、K2为正整数，且K1K2；确定K2个连通区域中每一连通区域的质心，并根据每一质心映射至所述目标图像的位置，得到K2张目标分割图像；从所述K2张目标分割图像中确定出满足第二预设要求的K3张待检测图像，其中，第二预设要求与所述目标分割图像的纹理信息相关，K3为正整数，且K2K3；

分别计算每张待检测图像对应的d个不变矩，并根据每张待检测图像的d个不变矩与预先获得的标准产品图像对应的d个标准不变矩，对所述待检测产品进行表面缺陷检测，分别计算每张待检测图像的d个不变矩相对于所述d个标准不变矩的方差；若所述多张待检测图像中的任一张待检测图像的方差大于第一阈值，则确定所述待检测产品存在表面缺陷，其中，d为正整数，第一阈值范围设置为50-1000。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述目标图像进行阈值分割，获得K1个连通区域，包括：

对所述目标图像进行滤波，获得滤波后的灰度图像；

根据所述灰度图像中每一像素点的灰度值与第二阈值的大小关系，得到所述目标图像的二值图像，其中，所述第二阈值为预设系数与所述灰度图像中的最大灰度值的乘积，待检测产品上的单个待检测对象在所述二值图像中形成连通区域；

获取所述二值图像中的K1个连通区域。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述从所述K1个连通区域中确定出满足第一预设要求的K2个连通区域，包括：

计算所述K1个连通区域中每一连通区域的面积，以及与所述连通区域具有相同标准二阶中心距的椭圆的离心率；

从所述K1个连通区域中确定出满足如下要求的K2个连通区域：所述连通区域的面积位于第一阈值范围内且所述连通区域对应的离心率不小于第三阈值。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据每一质心映射至所述目标图像的位置，得到K2张目标分割图像，包括：

以K2个连通区域的质心为中心对所述目标图像进行分割，得到K2张原始分割图像；

计算每一张原始分割图像的梯度方向直方图，所述梯度方向直方图表示所述原始分割图像在不同梯度方向上的像素点个数的统计；

确定所述梯度方向直方图中像素点个数最多的梯度方向，并根据所述梯度方向和预设旋转方向矫正所述待检测对象在所述原始分割图像中的角度，获得矫正后的分割图像；

以矫正后的分割图像的质心为中心分别对每一张矫正后的分割图像进行裁剪，得到K2张目标分割图像。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述从所述K2张目标分割图像中确定出满足第二预设要求的K3张待检测图像，包括：

计算所述目标分割图像的梯度方向直方图，所述梯度方向直方图表示所述目标分割图像在不同梯度方向上的像素点个数的统计；

计算每张目标分割图像的梯度方向直方图相对于预先获得的标准产品图像对应的标准梯度方向直方图的方差；

从所述K2张目标分割图像中确定出满足如下要求的K3张待检测图像：所述目标分割图像对应的方差小于第四阈值。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述分别计算每张待检测图像对应的d个不变矩，包括：

分别计算每张待检测图像沿水平方向和沿竖直方向上的二阶梯度，并利用hu不变矩计算所述二阶梯度的多个不变矩，每张待检测图像获得共D个不变矩，其中，D为正整数，且Dd；

利用主成分分析算法确定所述D个不变矩的主成分，获得d个不变矩。