[发明专利]摄像机曝光时间调整方法及终端设备

说明书

本发明适用于非接触式测量技术领域，提供了一种摄像机曝光时间调整方法及终端设备，该方法适用于线结构光传感器三维测量系统，包括获取当前曝光时间下的初始激光线图像，并根据初始激光线图像得到有效激光线的宽度，然后根据有效激光线的宽度动态调整摄像机的曝光时间。本发明可根据激光线的宽度动态调整曝光时间，可在高亮激光线部分和背景部分对比度较大的情况下，保持合适的曝光时间，避免欠曝光或过曝光现象，使得曲率变化不一致的待测工件表面的激光线的宽度可保持相对稳定，提高了测量的稳定性及精度。

技术领域

本发明属于非接触式测量技术领域，尤其涉及一种摄像机曝光时间调整方法及终端设备。

背景技术

线结构光传感器三维测量系统通常由摄像机、线结构激光发射器、运动工作台组成，测量过程中，线结构激光发射器所投射的激光平面与待测工件相交形成一条高亮的激光线，利用预先标定的摄像机、线结构激光发射器和待测工件的空间三角位置关系可以解算出高亮的激光条纹所在位置的三维坐标信息。

在线结构光传感器三维测量过程中，曝光时间不理想引起的欠曝光及过曝光均会严重影响测量结果的准确性。由于待测工件表面曲率变化不一致，当曝光时间在曲率较大的部分激光线效果较好时，则在曲率较小的部分会发生过曝光现象。反之，当曝光时间在曲率较小的部分激光线效果较好时，则在曲率较大的部分会出现欠曝光现象，因此需对曝光时间进行调整。

传统方法多根据整体图像的平均灰度对图像曝光时间进行调整，但线结构光传感器测量过程中，高亮激光线部分与背景部分对比度较大，采用传统方法对曝光时间进行调整对于曲率变化不一致的待测工件表面的激光线的调节效果不理想，仍然会存在过曝光现象，影响测量的稳定性及精度。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例提供了一种摄像机曝光时间调整方法及终端设备，以解决现有技术中由于高亮激光线部分与背景部分对比度较大，对于曲率变化不一致的待测工件表面的激光线曝光时间调节效果不理想，影响测量稳定性及精度的问题。

本发明实施例的第一方面提供了一种摄像机曝光时间调整方法，适用于线结构光传感器三维测量系统，包括：

S101，获取第一曝光时间下的初始激光线图像，并根据所述初始激光线图像得到有效激光线的宽度；

S102，若所述有效激光线的宽度大于第一预设宽度阈值，或所述有效激光线的宽度小于第二预设宽度阈值，则根据所述有效激光线的宽度计算得到第二曝光时间，将所述第二曝光时间作为新的所述第一曝光时间，并重复步骤S101，直至所述有效激光线的宽度小于或等于所述第一预设宽度阈值且所述有效激光线的宽度大于或等于所述第二预设宽度阈值。

本发明实施例的第二方面提供了一种终端设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如本发明实施例的第一方面提供的摄像机曝光时间调整方法的步骤。

本发明实施例的第三方面提供了一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现如本发明实施例的第一方面提供的摄像机曝光时间调整方法的步骤。

本发明实施例与现有技术相比存在的有益效果是：获取第一曝光时间下的初始激光线图像，并根据所述初始激光线图像得到有效激光线的宽度，然后根据有效激光线的宽度动态调整摄像机的曝光时间。本发明实施例根据激光线的宽度动态调整摄像机曝光时间，可在高亮激光线部分和背景部分对比度较大的情况下，保持合适的曝光时间，避免欠曝光或过曝光现象，使得曲率变化不一致的待测工件表面的激光线的宽度可保持相对稳定，提高了测量的稳定性及精度。

附图说明