[发明专利]一种位姿优化方法及装置在审

专利信息
申请号: 201910819507.2 申请日: 2019-08-31
公开(公告)号: CN112444242A 公开(公告)日: 2021-03-05
发明(设计)人: 曾丝雨 申请(专利权)人: 北京地平线机器人技术研发有限公司
主分类号: G01C21/00 分类号: G01C21/00;G01C21/16
代理公司: 北京嘉科知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11687 代理人: 杨波
地址: 100086 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 优化 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种位姿优化方法,包括:

获取图像采集设备在采集当前帧图像时对应的第一位姿;

确定所述第一位姿对应的可视空间区域;

确定矢量地图中落入所述可视空间区域的地图点的空间坐标;

确定所述当前帧图像的特征信息;

根据所述第一位姿、所述地图点的空间坐标和所述特征信息,确定所述地图点在所述当前帧图像中的投影误差;

根据所述投影误差对所述第一位姿进行优化,以获得经过优化的第一位姿。

2.根据权利要求1所述的方法,其中,所述特征信息包括第一目标物体的轮廓信息;

所述根据所述第一位姿、所述地图点的空间坐标和所述特征信息,确定所述地图点在所述当前帧图像中的投影误差包括:

通过所述第一位姿,将所述地图点的空间坐标投影到所述当前帧图像中,以确定所述地图点的投影像素坐标;

根据所述投影像素坐标及所述轮廓信息,确定投影误差。

3.根据权利要求2所述的方法,其中,所述特征信息还包括第二目标物体的像素点;

所述通过所述第一位姿,将所述地图点的空间坐标投影到所述当前帧图像中,以确定所述地图点的投影像素坐标包括:

通过所述第一位姿,将所述地图点的空间坐标投影到所述当前帧图像中,以获得投影点;

根据所述第二目标物体的像素点,确定掩膜区域;

根据所述投影点及所述掩模区域,确定投影像素坐标。

4.根据权利要求1所述的方法,其中,所述根据所述投影误差对所述第一位姿进行优化,以获得经过优化的第一位姿包括:

根据所述地图点与所述图像采集设备之间的距离,确定所述地图点的权重值;

根据所述地图点的权重值与所述地图点的投影误差对所述第一位姿进行优化,以获得经过优化的第一位姿。

5.根据权利要求1所述的方法,其中,所述方法还包括:

对所述当前帧图像的第一特征点与先前帧图像的第二特征点进行特征匹配,以确定匹配特征点,所述匹配特征点对应同一语义类别信息;

根据所述第一位姿、所述先前帧图像的第二位姿以及预设相机内参,确定基础矩阵;

根据所述基础矩阵及匹配特征点,确定对极约束误差;

所述根据所述投影误差对所述第一位姿进行优化,以获得经过优化的第一位姿包括:

根据所述投影误差、所述对极约束误差对所述第一位姿进行优化,以获得经过优化的第一位姿。

6.根据权利要求5所述的方法,其中,所述方法还包括:

通过绝对尺度传感器确定所述图像采集设备在采集所述当前帧图像与所述先前帧图像期间运动的第一平移增量;

确定所述第一位姿与所述第二位姿之间的第二平移增量;

所述根据所述投影误差、所述对极约束误差对所述第一位姿进行优化,以获得经过优化的第一位姿包括:

根据所述投影误差、所述对极约束误差、所述第一平移增量与第二平移增量的差值对所述第一位姿进行优化,以获得经过优化的第一位姿。

7.根据权利要求6所述的方法,其中,所述根据所述投影误差、所述对极约束误差、所述第一平移增量与第二平移增量的差值对所述第一位姿进行优化,以获得经过优化的第一位姿包括:

基于所述投影误差、所述对极约束误差、所述第一平移增量与第二平移增量的差值确定目标函数;

调整所述第一位姿,以调整所述目标函数;

确定所述目标函数满足预设条件时的第一位姿为经过优化的第一位姿。

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