[发明专利]ACF导电粒子压合自动检测方法及装置

说明书

本发明提供一种ACF导电粒子压合自动检测方法，包括如下步骤：S1、取像步骤；S2、一次导电粒子区域检测步骤；S3、二次导电粒子区域检测步骤；S4、粒子区域选定步骤；S5、粒子区域验证步骤；S6、导电粒子判断步骤；S7、压合结果导出步骤。本发明的可以根据产品规格参数判断ACF导电粒子压合是否合格，实现了ACF检测的自动化，提高检测的准确性和效率。

技术领域

本发明涉及图像处理技术领域，尤其是一种ACF导电粒子压合自动检测方法及装置。

背景技术

液晶显示器除了液晶面板外，在其外围必须连动驱动芯片作为显示讯号之控制用途。COG是chip on glass的缩写，即芯片被直接绑定在玻璃上；FOG是FPC on Glass的缩写。两者都是用于液晶玻璃与电路电气导通的加工方式。其中比较常用的是使用异方性导电膜(ACF)进行电性连接。

ACF是Anisotropic Conductive Film的缩写，其特点在于Z轴电气导通方向与XY绝缘平面的电阻特性具有明显的差异性。当Z轴导通电阻值与XY平面绝缘电阻值的差异超过一定比值后，既可称为良好的导电异方性。导电原理是利用导电粒子连接IC芯片与基板两者之间的电极使之成为导通，同时又能避免相邻两电极间导通短路，而达成只在Z轴方向导通之目的。

异方性导电膜(ACF)是一种显示器件与电路连接所必不可少的关键性材料,主要包括树脂粘合剂、导电粒子两大部分，导电粒子是金属涂覆的聚合物球体，粘合剂是热固性树脂。液晶显示器的封装过程中对导电粒子的检测是非常必要的。目前的技术一般使用面阵相机采集ACF图像进行导电粒子分析，由于导电粒子区域亮度不明显、图像亮度不均匀等难点，导致在进行ACF压合检测中，无法完成ACF导电粒子的大小、数量和分布情况的检测，使检测准确性和效率都不高。

发明内容

针对背景技术中所提到的技术问题，本发明提供了一种ACF导电粒子压合自动检测方法及装置。

本发明所采用的技术方案为：

一种ACF导电粒子压合自动检测方法，包括如下步骤：

S1、取像步骤，采用DALSA相机和LEICA微分干涉成像显微镜取像，使导电粒子在物体表面起伏而产生明显的浮雕效果，得到异方性导电膜绑定后导电粒子的图像；

S2、一次导电粒子区域检测步骤，调整图像的对比度和亮度，采用动态阈值分割算法进行一次导电粒子区域检测，该动态阈值分割算法中使用全局阈值来分割图像；

S3、二次导电粒子区域检测步骤，采用动态阈值分割算法初步判断出可能的导电粒子区域，该动态阈值分割算法中使用局部阈值来分割图像；

S4、粒子区域选定步骤，采用形态学处理算法分割出每个导电粒子区域；

S5、粒子区域验证步骤，验证步骤S4中选定的导电粒子区域，剔除误检区域；

S6、导电粒子判断步骤，判断步骤S5中确认的导电粒子区域中的导电粒子是否合格；

S7、压合结果导出步骤，统计步骤S6中的导电粒子的大小、数量、分布情况，与预设阈值进行比较，判断ACF导电粒子压合是否合格。

优选的，所述步骤S2中，调整图像的对比度和亮度，进行一次导电粒子区域检测的具体步骤包括：

S21、对于亮度不一致的整幅图像，根据亮度分布情况，对图像进行分块；

S22、对任一块分块宽和高为M*N像素的图像O'，像素点(i,j)(i∈[0,M-1],j∈[0,N-1])的灰度值为O'(i,j)，图像灰度均值mean为：

则增强后的点(i,j)处灰度值为：