[发明专利]ACF导电粒子压合自动检测方法及装置

权利要求书

1.一种ACF导电粒子压合自动检测方法，其特征在于，包括如下步骤：

S1、取像步骤，采用DALSA相机和LEICA微分干涉成像显微镜取像，使导电粒子在物体表面起伏而产生明显的浮雕效果，得到异方性导电膜绑定后导电粒子的图像；

S2、一次导电粒子区域检测步骤，调整图像的对比度和亮度，采用动态阈值分割算法进行一次导电粒子区域检测，该动态阈值分割算法中使用全局阈值来分割图像；

S3、二次导电粒子区域检测步骤，采用动态阈值分割算法初步判断出可能的导电粒子区域，该动态阈值分割算法中使用局部阈值来分割图像；

S4、粒子区域选定步骤，采用形态学处理算法分割出每个导电粒子区域；

S5、粒子区域验证步骤，验证步骤S4中选定的导电粒子区域，剔除误检区域；

S6、导电粒子判断步骤，判断步骤S5中确认的导电粒子区域中的导电粒子是否合格；

S7、压合结果导出步骤，统计步骤S6中的导电粒子的大小、数量、分布情况，与预设阈值进行比较，判断ACF导电粒子压合是否合格。

2.根据权利要求1所述的ACF导电粒子压合自动检测方法，其特征在于，所述步骤S2中，调整图像的对比度和亮度，进行一次导电粒子区域检测的具体步骤包括：

S21、对于亮度不一致的整幅图像，根据亮度分布情况，对图像进行分块；

S22、对任一块分块宽和高为M*N像素的图像O'，像素点(i,j)(i∈[0,M-1],j∈[0,N-1])的灰度值为O'(i,j)，图像灰度均值mean为：

则增强后的点(i,j)处灰度值为：

式中shift为人工调整参数,用于控制图像的亮度和对比度,得到调整后的图像；

S23、对调整后的图像采用全局阈值分割算法提取粒子区域；

S24、将每块图像中提取的粒子区域合并后进行连通域拆分，将每个导电粒子拆分为独立的区域,得到区域集合C₁。

3.根据权利要求1所述的ACF导电粒子压合自动检测方法，其特征在于，所述步骤S3中，采用动态阈值分割算法初步判断出可能的导电粒子区域，该方法使用局部阈值来分割图像，具体步骤包括：

S31、对原始图像O中通过步骤S2得到的屏蔽区域C₁后进行线性滤波，在图像上对目标像素点提供一个模板，该模板包括了其周围的临近像素，再用模板中的全体像素的平均值来代替原来像素值，得到平滑处理的图像T；

S32、采用动态阈值分割算法提取粒子区域位置，需设定一个偏移量offset,再对图像O屏蔽区域C₁后与T上的点(i,j)进行比较，得到二值图像E，则：

(i,j)为目标像素点的坐标，二值图像E中灰度为1的点即为可能的导电粒子区域。

4.根据权利要求1所述的ACF导电粒子压合自动检测方法，其特征在于，所述步骤S4中，采用形态学处理算法分割出每个导电粒子区域的具体步骤包括，

S41、采用区域填充算法将步骤S3得到的粒子区域进行填充，得到完整的区域；

S42、对填充后的区域进行圆形结构元素的开运算，剔除多余的区域，将粘连的粒子区域分开；

S43、对开运算后区域进行圆形结构元素的闭运算，修补粒子的缺损区域；

S44、对闭运算后的区域进行连通域拆分，将每个粒子拆分为独立的区域,得到区域集合C'₁。

5.根据权利要求1所述的ACF导电粒子压合自动检测方法，其特征在于，所述步骤S5中，验证选定的导电粒子区域，剔除误检区域的具体步骤包括，

S51、对C'₁中的每个粒子区域,计算各区域的像素宽度w、高度h和区域中心,根据w,h值剔除非粒子区域，得到区域集合C'₂；

S52、对C'₂中的每个粒子区域,计算区域面积和中心到该区域轮廓点的最大距离，进而计算区域的圆形相似的度因子k,根据k值剔除非粒子区域，得到区域集合C₂。