[发明专利]一种磁盘设备寿命预测方法及装置

说明书

本发明提供一种磁盘设备寿命预测方法及装置，该方法包括：基于待测磁盘设备中的N个SMART特征值在预设时间阈值内的变异系数进行计算，得到待测特征值；分别计算待测特征值分别与M个预设的训练样本值的权重，并构建权重矩阵；基于权重矩阵进行线性回归计算，得到回归系数；基于回归系数，确定待测特征值对应的待测磁盘设备的寿命状态。在本发明中，通过确定待测特征值对应的回归系数，能够确定待测磁盘设备的寿命状态，从而提高存储系统的安全性及可靠性较低。

技术领域

本发明涉数据处理技术领域，尤其涉及一种磁盘设备寿命预测方法及装置。

背景技术

随着计算机技术的不断发展，需要存储的数据不断增多，对存储系统存储性能的需求也越来越大，存储系统能否提供稳定可靠的数据访问能力，直接影响整个存储系统的可靠性。基于数据中心统计，存储系统中的磁盘设备是故障率最高的部件。

现有技术中，只能够通过自我检测分析与报告技术（Self-Monitoring AnalysisAnd Reporting Technology，SMART）自动监控磁盘设备驱动器完好状况和报告潜在问题，提前预测磁盘设备的故障。但是，一旦有连续多块设备故障，用户数据还是会丢失，且会导致其磁盘设备的性能呈现衰退状态。

因此，由于无法对磁盘设备的寿命进行预测，当磁盘设备的性能呈现的衰退状态达到一定程度时，磁盘设备无法提供可靠的数据访问能力，且磁盘设备的寿命状态为损坏，从而导致存储系统的安全性及可靠性较低。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例提供一种磁盘设备寿命预测方法及装置，以解决现有技术中存储系统的安全性及可靠性较低的问题。

为实现上述目的，本发明实施例提供如下技术方案：

本发明实施例一方面公开了一种磁盘设备寿命预测方法，所述方法包括：

基于待测磁盘设备中的N个SMART特征值在预设时间阈值内的变异系数进行计算，得到待测特征值，其中，N为大于等于1的整数；

分别计算所述待测特征值与M个预设的训练样本值的权重，并构建权重矩阵，所述训练样本值包括预设数量的磁盘设备的特征值，M为大于等于1的整数；

基于所述权重矩阵进行线性回归计算，得到回归系数；

基于所述回归系数，确定所述待测特征值对应的待测磁盘设备的寿命状态。

可选的，所述训练样本值的预设过程包括：

获取训练磁盘设备记录的 SMART特征值；

选择n个与预设寿命特征数据相关性高的SMART特征值，所述n用于指示预先设定的要选取的SMART特征值的个数，n为大于等于1的整数；

基于n个SMART特征值在预设时间阈值内的变异系数进行计算，得到训练样本值，其中，n为大于等于1的整数。

可选的，所述在基于待测磁盘设备中的N个SMART特征值在预设时间阈值内的变异系数进行计算，得到待测特征值之前，还包括：

获取待预测磁盘设备记录的 SMART特征值；

选择N个与预设寿命特征数据相关性高的SMART特征值，所述N用于指示预先设定的要选取的SMART特征值的个数。

可选的，所述基于所述回归系数，确定所述待测特征值对应的待测磁盘设备的寿命状态，包括：

基于所述回归系数进行计算，得到所述待测特征值对应的预测数据；

判断所述待测特征值对应的预测数据是否大于预设的阈值；