[发明专利]一种磁盘设备寿命预测方法及装置

权利要求书

1.一种磁盘设备寿命预测方法，其特征在于，所述方法包括：

基于待测磁盘设备中的N个SMART特征值在预设时间阈值内的变异系数进行计算，得到待测特征值，其中，N为大于等于1的整数；

分别计算所述待测特征值与M个预设的训练样本值的权重，并构建权重矩阵，所述训练样本值包括预设数量的磁盘设备的特征值，M为大于等于1的整数，其中，所述训练样本值的预设过程包括：

获取训练磁盘设备记录的SMART特征值；

选择n个与预设寿命特征数据相关性高的SMART特征值，所述n用于指示预先设定的要选取的SMART特征值的个数，n为大于等于1的整数；

基于n个SMART特征值在预设时间阈值内的变异系数进行计算，得到训练样本值，其中，n为大于等于1的整数；

基于所述权重矩阵进行线性回归计算，得到回归系数；

基于所述回归系数，确定所述待测特征值对应的待测磁盘设备的寿命状态；

其中，所述基于所述回归系数，确定所述待测特征值对应的待测磁盘设备的寿命状态，包括：

基于所述回归系数进行计算，得到所述待测特征值对应的预测数据；

判断所述待测特征值对应的预测数据是否大于预设的阈值；

当所述预测数据大于等于预设的阈值时，确定所述待测特征值对应的待测磁盘设备的寿命状态为可用，所述可用的寿命状态用于指示磁盘设备的寿命大于等于预先标记的天数；

当所述预测数据小于预设的阈值时，确定所述待测特征值对应的待测磁盘设备的寿命状态为损坏，所述损坏的寿命状态用于指示磁盘设备的寿命小于预先标记的天数。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述在基于待测磁盘设备中的N个SMART特征值在预设时间阈值内的变异系数进行计算，得到待测特征值之前，还包括：

获取待预测磁盘设备记录的SMART特征值；

选择N个与预设寿命特征数据相关性高的SMART特征值，所述N用于指示预先设定的要选取的SMART特征值的个数。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

在确定所述待测特征值对应的待测磁盘设备的寿命状态后，输出提示信息。

4.一种磁盘设备寿命预测装置，其特征在于，所述装置包括：

第一计算单元，用于基于待测磁盘设备中的N个SMART特征值在预设时间阈值内的变异系数进行计算，得到待测特征值，其中，N为大于等于1的整数；

第二计算单元，用于分别计算所述待测特征值与M个预设的训练样本值的权重，并构建权重矩阵，所述训练样本值包括预设数量的磁盘设备的特征值，M为大于等于1的整数，其中，所述训练样本值的预设过程包括：

获取训练磁盘设备记录的SMART特征值；

选择n个与预设寿命特征数据相关性高的SMART特征值，所述N用于指示预先设定的要选取的SMART特征值的个数，n为大于等于1的整数；

基于n个SMART特征值在预设时间阈值内的变异系数进行计算，得到训练样本值，其中，n为大于等于1的整数；

第三计算单元，用于基于所述权重矩阵进行线性回归计算，得到回归系数；

确定单元，用于基于所述回归系数，确定所述待测特征值对应的待测磁盘设备的寿命状态；

其中，所述确定单元包括：

计算子单元，用于基于所述回归系数进行计算，得到所述待测特征值对应的预测数据；

判断单元，用于判断所述待测特征值对应的预测数据是否大于预设的阈值；

第一确定子单元，用于当所述预测数据大于等于预设的阈值时，确定所述待测特征值对应的待测磁盘设备的寿命状态为可用，所述可用的寿命状态用于指示磁盘设备的寿命大于等于预先标记的天数；

第二确定子单元，用于当所述预测数据小于预设的阈值时，确定所述待测特征值对应的待测磁盘设备的寿命状态为损坏，所述损坏的寿命状态用于指示磁盘设备的寿命小于预先标记的天数。

5.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，还包括：

获取单元，用于获取待预测磁盘设备记录的SMART特征值；

选择单元，用于选择N个与预设寿命特征数据相关性高的SMART特征值，所述N用于指示预先设定的要选取的SMART特征值的个数。

6.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，还包括：

提示单元，用于在确定所述待测特征值对应的待测磁盘设备的寿命状态后，输出提示信息。