[发明专利]时序测量的方法及装置

说明书

本发明提供了一种时序测量的方法及装置，包括：设置定时器预设时间中断一次；若待测试时序的测试触发条件产生，则判断待测试时序的配置状态；如果已配置，则对定时器的中断标志清零，对定时器记录的定时中断次数清零，备份当前时刻16位寄存器高8位的第一值和16位寄存器低8位的第一值；获取完成测试触发条件对应的应用程序时，16位寄存器高8位的第二值、16位寄存器低8位的第二值和定时器记录的定时中断次数；基于上述数值计算待测试时序。本发明通过软件即可实现对待测试时序进行自动测量的目的，操作简单，测试效率高。

技术领域

本发明涉及测量的技术领域，尤其是涉及一种时序测量的方法及装置。

背景技术

适用于光模块产品的MSA协议(multi-source agreement，多来源协议)中，定义了很多时序要求，如SFF-8472协议中分别定义了TX_DISABLE、RX_LOS信号的assert time(宣称时间)和deassert time(解除时间)，TX_FAULT信号的assert time(宣称时间)。另外，如SFF_8431协议也定义了SFP+内存信息保存时间(Twr)，出厂的模块必须满足这些要求。

目前，对这些时序的测量主要通过给出触发条件，然后通过固件配置测试引脚输出不同电平，焊接引线将测试引脚连接到示波器探针，或用示波器探针连接测试点，进而借助示波器对相应的电平进行测量得出上述时序。

现有的时序测量方法需要借助示波器，并且需要焊接测试引线或拆壳测试，另外，固件还需要配置测试引脚以进行电平的输出。操作繁琐，测试效率低，测试引线的焊接可能会给电路板带来连锡短路隐患，测试完成后，固件配置的测试引脚若没有正确屏蔽，还会给光模块本身或外部电路带来不确定性影响(如，增加功耗)，进而烧坏元器件。

综上，现有的时序测量方法存在操作繁琐，测试效率低，甚至损坏元器件的技术问题。

发明内容

本发明的目的在于提供一种时序测量的方法及装置，以缓解现有的时序测量方法操作繁琐、测试效率低、甚至损坏元器件的技术问题。

本发明提供的一种时序测量的方法，应用于微控制单元，包括：

设置定时器预设时间中断一次；

完成设置后，若待测试时序的测试触发条件产生，则判断所述待测试时序的配置状态；

如果所述配置状态为已配置，则对所述定时器的中断标志清零，对所述定时器记录的定时中断次数清零，并备份当前时刻16位寄存器高8位的第一值和16位寄存器低8位的第一值；

获取完成所述测试触发条件对应的应用程序时，16位寄存器高8位的第二值、16位寄存器低8位的第二值和所述定时器记录的定时中断次数；

基于所述16位寄存器高8位的第一值、所述16位寄存器低8位的第一值、所述16位寄存器高8位的第二值、所述16位寄存器低8位的第二值和所述定时中断次数计算所述待测试时序。

进一步的，所述方法还包括：

如果所述配置状态为未配置，则不对所述定时器记录的定时中断次数清零，且不备份当前时刻所述16位寄存器高8位的第一值、所述16位寄存器低8位的第一值，不进行所述待测试时序的计算。

进一步的，获取完成所述测试触发条件对应的应用程序时，16位寄存器高8位的第二值、16位寄存器低8位的第二值和所述定时器记录的定时中断次数包括：

完成所述测试触发条件对应的应用程序时，再次判断所述待测试时序的配置状态；

如果所述配置状态为已配置，则获取当前时刻所述16位寄存器高8位的第二值、所述16位寄存器低8位的第二值和所述定时器记录的定时中断次数。

进一步的，所述方法还包括：