[发明专利]时序测量的方法及装置

权利要求书

1.一种时序测量的方法，其特征在于，应用于微控制单元，包括：

设置定时器预设时间中断一次；

若待测试时序的测试触发条件产生，则判断所述待测试时序的配置状态；

如果所述配置状态为已配置，则对所述定时器的中断标志清零，对所述定时器记录的定时中断次数清零，并备份当前时刻16位寄存器高8位的第一值和16位寄存器低8位的第一值；

获取完成所述测试触发条件对应的应用程序时，16位寄存器高8位的第二值、16位寄存器低8位的第二值和所述定时器记录的定时中断次数；

基于所述16位寄存器高8位的第一值、所述16位寄存器低8位的第一值、所述16位寄存器高8位的第二值、所述16位寄存器低8位的第二值和所述定时中断次数计算所述待测试时序；

其中，基于所述16位寄存器高8位的第一值、所述16位寄存器低8位的第一值、所述16位寄存器高8位的第二值、所述16位寄存器低8位的第二值和所述定时中断次数计算所述待测试时序包括：

根据第一计算算式T_Buf＝TH_Buf*256+TL_Buf计算16位寄存器的第一值；其中，T_Buf表示所述16位寄存器的第一值，TH_Buf表示所述16位寄存器高8位的第一值，TL_Buf表示所述16位寄存器低8位的第一值；

根据第二计算算式T_Cur＝TH_Cur*256+TL_Cur计算16位寄存器的第二值；其中，T_Cur表示所述16位寄存器的第二值，TH_Cur表示所述16位寄存器高8位的第二值，TL_Cur表示所述16位寄存器低8位的第二值；

如果所述16位寄存器的第一值不大于所述16位寄存器的第二值，则根据第一时序计算算式Timer＝Cnt*T+(T_Cur-T_Buf)*UNIT*10^-6计算所述待测试时序；其中，Timer表示所述待测试时序，Cnt表示所述定时中断次数，T表示所述预设时间，T_Buf表示所述16位寄存器的第一值，T_Cur表示所述16位寄存器的第二值，UNIT表示所述定时器的精度；

如果所述16位寄存器的第一值大于所述16位寄存器的第二值，则根据第二时序计算算式Timer＝Cnt*T-(T_Buf-T_Cur)*UNIT*10^-6计算所述待测试时序；其中，Timer表示所述待测试时序，Cnt表示所述定时中断次数，T表示所述预设时间，T_Buf表示所述16位寄存器的第一值，T_Cur表示所述16位寄存器的第二值，UNIT表示所述定时器的精度。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

如果所述配置状态为未配置，则不对所述定时器记录的定时中断次数清零，且不备份当前时刻所述16位寄存器高8位的第一值、所述16位寄存器低8位的第一值，不进行所述待测试时序的计算。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，获取完成所述测试触发条件对应的应用程序时，16位寄存器高8位的第二值、16位寄存器低8位的第二值和所述定时器记录的定时中断次数包括：

完成所述测试触发条件对应的应用程序时，再次判断所述待测试时序的配置状态；

如果所述配置状态为已配置，则获取当前时刻所述16位寄存器高8位的第二值、所述16位寄存器低8位的第二值和所述定时器记录的定时中断次数。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

如果所述配置状态为未配置，则不执行获取当前时刻所述16位寄存器高8位的第二值、所述16位寄存器低8位的第二值和所述定时器记录的定时中断次数的动作，且不进行所述待测试时序的计算。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在计算所述待测试时序之后，所述方法还包括：

将计算得到的所述待测试时序写入与所述待测试时序对应的字段，以使上位机通过读取所述字段中的信息得到所述待测试时序。