[发明专利]超级电容综合参数检测系统

说明书

本发明涉及一种超级电容综合参数检测系统，包括控制系统和传动装置，控制系统包括设有信号采集系统的工控机和与工控机连接的PLC，传动装置包括传动机构和安装于传动机构上的电容翻转机构，传动机构和电容翻转机构均与PLC连接；传动机构上方沿所述传动机构首端至末端方向依次设有视觉检测工位、厚度检测工位和电容下料工位，电容翻转机构位于视觉检测工位的下方；视觉检测工位设有获取电容图像的第一视觉相机和第二视觉相机，第一视觉相机和第二视觉相机均与工控机连接；厚度检测工位设有获取电容厚度的厚度传感器，厚度传感器与所述工控机连接。本发明能够实现对电容外观及厚度的自动检测，检测效率和检测精度高。

技术领域

本发明属于电容检测技术领域，涉及超级电容检测技术，具体地说，涉及一种超级电容综合参数检测系统。

背景技术

超级电容是一种介于传统电容器与电池之间、具有特殊性能的电源，主要依靠双电层和氧化还原假电容电荷储存电能。超级电容生产完成后，需要对电容单体进行产品条码扫描和外观(如尺寸)、正负极、缺陷、重量、厚度及边电压边电阻等参数进行综合检测，以此作为判断此超级电容单体是否合格的依据。目前上述参数的检测主要依靠人工检测，检测效率低，人工成本高，检测精度低。

公开号为CN 106017269 A的中国专利申请公开了一种高压陶瓷电容器瓷介质芯片厚度检测装置，包括自动传输线、电磁铁、升降杆、圆形轨道、数显百分表、伸缩挡杆和计算机；自动传输线上设置有厚度尺寸检测工位，位于厚度尺寸检测工位正下方的自动传输线底部固定设置有电磁铁，厚度尺寸检测工位的正上方设置有圆形轨道；位于厚度尺寸检测工位上游的自动传输线上设有伸缩挡杆；圆形轨道的直径小于瓷介质芯片的直径，圆形轨道的底部滑动连接数显百分表；圆形轨道通过升降杆固定设置在自动传输线的一侧，升降杆上设置有位移传感器；上述电磁铁、升降杆、数显百分表和伸缩挡杆均与计算机相连接。采用上述结构后，能在线实时检测压制产品的厚度尺寸，检测效率高，检测数据可靠。

公开号为CN 106017270 A的中国专利申请公开了一种双电极高压陶瓷电容器瓷介质芯片厚度检测装置，包括自动传输线、电磁铁、升降杆、厚度检测装置、伸缩挡杆和计算机。自动传输线上设有厚度尺寸检测工位，位于厚度尺寸检测工位正下方的自动传输线底部固定设有电磁铁，厚度尺寸检测工位的正上方设有厚度检测装置，该厚度检测装置与电磁铁同轴设置；位于厚度尺寸检测工位上游的自动传输线上设有伸缩挡杆；厚度检测装置的高度能够升降；厚度检测装置包括大环形轨道、小环形轨道、数显百分表一和数显百分表二；数显百分表一滑动设置在大环形轨道的底部，数显百分表二滑动设置在小环形轨道的底部。采用上述结构后，能在线实时检测压制产品的厚度尺寸，检测效率高，检测数据可靠。

上述两种检测装置仅能够实时检测压纸制品的厚度尺寸，无法实现对电容单体进行产品条码扫描和外观(如尺寸)、正负极、缺陷、重量及边电压边电阻等参数进行综合检测。

发明内容

本发明针对现有超级电容参数检测时存在的检测效率和精度低、仅能进行单一参数检测等上述问题，提供了一种超级电容综合参数检测系统，能够高效、准确地对超级电容的参数进行综合检测。

为了达到上述目的，本发明提供了一种超级电容综合参数检测系统，包括控制系统和传动装置，所述控制系统包括设有信号采集系统的工控机和与所述工控机连接的PLC，所述传动装置包括传动机构和安装于所述传动机构上的电容翻转机构，所述传动机构和所述电容翻转机构均与所述PLC连接；所述传动机构上方沿所述传动机构首端至末端方向依次设有视觉检测工位、厚度检测工位和电容下料工位，所述电容翻转机构位于所述视觉检测工位的下方；所述视觉检测工位设有获取电容图像的第一视觉相机和第二视觉相机，所述第一视觉相机和所述第二视觉相机均与所述工控机连接；所述厚度检测工位设有获取电容厚度的厚度传感器，所述厚度传感器与所述工控机连接。