[发明专利]产品认证方法及相关装置

说明书

本申请公开一种产品认证方法、系统、可读存储介质及电子设备，属于数据处理领域，方法包括预先建立质量影响因素数据库，按照产品分类，针对每类产品保存对该产品的质量存在影响的因素集合，并保存每个质量影响因素的权重，在认证过程中，用户从系统中选择待认证产品，并输入待认证产品对应的最底层级中每个质量影响因素的评语数值；系统根据最底层级中每个质量影响因素的评语数值和每个质量影响因素的权重，自动计算出待认证产品的评价结果。由系统自动计算，提高了产品认证效率，且使得评价结果更加客观。

技术领域

本发明涉及数据处理领域，更具体地说，涉及产品认证方法、系统、可读存储介质及电子设备。

背景技术

产品认证分为国家强制性产品认证和自愿性产品认证。强制性产品认证要求由国家制定颁布，各认证机构执行，侧重于产品最基本的安全要求。自愿性产品认证一般由各个认证机构自己规定。现有的产品认证过程，由认证机构的相关人员，人为分析对产品质量有影响的各因素，并给出产品的评价结果。这种人为认证过程耗时较长，且评价结果容易受到主观因素影响。

发明内容

有鉴于此，本发明提出一种产品认证方法、系统、可读存储介质及电子设备，欲实现提高产品认证的效率且减少评价结果受到主观因素的影响的目的。

为了实现上述目的，现提出的方案如下：

一种产品认证方法，包括：

接收并响应待认证产品确定指令，从质量影响因素数据库获取待认证产品各层级的质量影响因素和每个所述质量影响因素的权重，并显示最低层级的所有质量影响因素；

接收用户输入的最低层级中每个质量影响因素的评语数值；

将低层级的同类别质量影响因素的评语数值乘以其权重后相加，得到比所述低层级高一级的质量影响因素的评语数值；

输出所述待认证产品的评价结果，最高层级的同类别质量影响因素的评语数值乘以其权重后相加，得到的为所述待认证产品的评价结果。

可选的，同类别质量影响因素的权重计算过程包括：

接收用户输入的针对所述同类别质量影响因素的判断矩阵；

计算得到所述判断矩阵的最大特征值；

计算得到与所述最大特征根对应的特征向量；

对所述特征向量进行归一化处理，归一化处理后的特征向量中的各个元素为所述同类别质量影响因素的权重。

可选的，在所述计算得到所述判断矩阵的最大特征值的步骤后，还包括：

将所述最大特征值代入矩阵参数公式，得到矩阵参数，所述矩阵参数公式为：C＝(λ_max-m)/[(m-1)*R]

其中，m为所述判断矩阵的阶数，R为与所述判断矩阵的阶数相关的常数，λ_max为所述最大特征值，C为所述矩阵参数；

判断所述矩阵参数是否大于参数阈值，若否，则执行所述计算得到与所述最大特征根对应的特征向量的步骤，若是，提示用户修改所述判断矩阵。

可选的，在所述接收用户输入的最低层级中每个质量影响因素的评语数值的步骤后，还包括：

将最低层级中的同类别质量影响因素的评语数值进行归一化处理。

一种产品认证系统，包括：

资源控制模块，用于接收并响应待认证产品确定指令，从质量影响因素数据库获取待认证产品各层级的质量影响因素和每个所述质量影响因素的权重，并显示最低层级的所有质量影响因素；

评语数值模块，用于接收用户输入的最低层级中每个质量影响因素的评语数值；