[发明专利]直线特征检测方法、装置及设备

权利要求书

1.一种直线特征检测方法，其特征在于，所述直线特征检测方法包括：

获取待检测图像，从所述待检测图像中获得采样点图像坐标；

将所述采样点图像坐标映射到霍夫空间中，获得映射在霍夫空间中的曲线；

获取多个预设极角坐标θ，计算出所述曲线上所述多个预设极角坐标θ分别对应的极径坐标γ；

确定分配给各个预设极角坐标θ的投票单元，其中，所述预设极角坐标θ与所述投票单元一一对应；

分别在各个预设极角坐标θ的投票单元中，确定各个预设极角坐标θ对应的极径坐标γ映射的存储地址，更新所述存储地址中的投票数据，其中，所述投票数据为所述极径坐标γ的出现次数，其中，每个极径坐标γ映射的存储地址，等于所述每个极径坐标γ的值；

对各个投票单元中的投票数据进行统计，获得统计结果，并根据所述统计结果确定直线特征参数；

所述对各个投票单元中的投票数据进行统计，获得统计结果，并根据所述统计结果确定直线特征参数的步骤包括：

对各个投票单元中的投票数据进行统计，确定在各个投票单元中，每个极径坐标的出现次数；

将所述出现次数大于预设阈值的极径坐标对应的参数坐标判定为直线特征参数，以确定所述待检测图像中各个方向的直线段。

2.如权利要求1所述的直线特征检测方法，其特征在于，所述获取待检测图像，从所述待检测图像中获得采样点图像坐标的步骤之后、所述将所述采样点图像坐标映射到霍夫空间中，获得映射在霍夫空间中的曲线的步骤之前包括：

将所述采样点图像坐标进行缓存，在缓存的所述采样点图像坐标的数量大于预设值时，读取缓存的所述采样点图像坐标。

3.如权利要求2所述的直线特征检测方法，其特征在于，所述将所述采样点图像坐标进行缓存，在缓存的所述采样点图像坐标的数量大于预设值时，读取缓存的所述采样点图像坐标的步骤包括：

将所述采样点图像坐标缓存至预置的第一存储器；

当所述第一存储器缓存数量大于预设值时，读取所述第一存储器中缓存的所述采样点图像坐标，并将所述采样点图像坐标缓存至预置的第二存储器；

在所述第二存储器缓存数量大于预设值时，读取所述第二存储器中缓存的所述采样点图像坐标，并将所述采样点图像坐标缓存至所述第一存储器；

返回执行所述当所述第一存储器缓存数量大于预设值时，读取所述第一存储器中缓存的所述采样点图像坐标，并将所述采样点图像坐标缓存至预置的第二存储器的步骤。

4.如权利要求2所述的直线特征检测方法，其特征在于，所述预设值大于或等于50。

5.如权利要求1所述的直线特征检测方法，其特征在于，所述获取待检测图像，从所述待检测图像中获得采样点图像坐标的步骤包括：

获取一个时钟周期的所述待检测图像的像素点；

在获取一个时钟周期的所述待检测图像的像素点后，基于该时钟周期的像素点计算获得所述采样点图像坐标，同时，获取下一个时钟周期的所述待检测图像的像素点；

返回执行所述在获取一个时钟周期的所述待检测图像的像素点后，基于该时钟周期的像素点计算获得所述采样点图像坐标，同时，获取下一个时钟周期的所述待检测图像的像素点的步骤。