[发明专利]清洁系统以及清洁方法在审
| 申请号: | 201910764755.1 | 申请日: | 2019-08-19 |
| 公开(公告)号: | CN110838434A | 公开(公告)日: | 2020-02-25 |
| 发明(设计)人: | 施焜雄;陈柏辰;蔡永豊;彭垂亚 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02 |
| 代理公司: | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人: | 韩旭;黄艳 |
| 地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 清洁 系统 以及 方法 | ||
1.一种清洁系统,包括:
一基座,配置以固定一晶圆;
一喷嘴,配置以在一清洁周期中于设置在该基座上的该晶圆上沉积一清洁溶液;以及
多个接触件,配置以当在该晶圆上沉积该清洁溶液时将该晶圆固定在该基座上,其中所述多个接触件的一第一子集合配置成在一第一时段接触该晶圆,且所述多个接触件的一第二子集合配置成在一第二时段接触该晶圆。
2.如权利要求1所述的清洁系统,其中该第一时段以及该第二时段是连续的。
3.如权利要求1所述的清洁系统,其中所述多个接触件皆配置成在一第三时段接触该晶圆,且该第三时段是介于该第一时段以及该第二时段之间。
4.如权利要求1所述的清洁系统,其中所述多个接触件的该第一子集合包括与所述多个接触件的该第二子集合不同的接触件。
5.如权利要求1所述的清洁系统,其中所述多个接触件的该第一子集合亦包括所述多个接触件的该第二子集合的一部分接触件。
6.一种清洁方法,包括:
使用沉积在一晶圆上的一清洁溶液对设置在一基座上的该晶圆进行清洁;
在一第一时段使用多个接触件的一第一子集合将该晶圆固定在该基座上;以及
在一第二时段使用所述多个接触件的一第二子集合将该晶圆固定在该基座上,其中该第二时段与该第一时段不同。
7.如权利要求6所述的清洁方法,还包括:
在该第一时段以及该第二时段之间的一第三时段,使用所述多个接触件的该第一子集合以及所述多个接触件的该第二子集合将基板固定在该基座上。
8.一种清洁方法,包括:
在一第一时段中,将一晶圆固定在一基座上的多个接触位置的一第一子集合处;
在该第一时段中,沿着所述多个接触位置的一第二子集合处清洁该晶圆;以及
在一第二时段中,将该晶圆固定在该基座上的所述多个接触位置的该第一子集合处,其中该第二时段与该第一时段不同。
9.如权利要求8所述的清洁方法,还包括:
在该第二时段中,沿着所述多个接触位置的该第一子集合处清洁该晶圆。
10.如权利要求8所述的清洁方法,还包括:
在一第三时段中,在所述多个接触位置的该第一子集合处以及在所述多个接触位置的该第二子集合处将该晶圆固定到该基座上,其中该第三时段是介于该第一时段以及该第二时段之间。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





