[发明专利]基于修正余弦相似度的冲突度量方法及设备

说明书

本申请涉及基于修正余弦相似度的冲突度量方法及设备。本申请的一个实施例公开了：一种基于修正余弦相似度的冲突度量方法，其包括：将证据1和证据2的基本概率赋值BPA的信任函数和似然函数分别表示成第一信任函数向量Bel₁和第二信任函数向量Bel₂以及第一似然函数向量Pl₁和第二似然函数向Pl₂；计算Bel₁和Bel₂的第一修正余弦相似度SI(Bel₁,Bel₂)以及Pl₁和Pl₂的第二修正余弦相似度SI(Pl₁,Pl₂)；以及基于所述第一修正余弦相似度SI(Bel₁,Bel₂)以及所述第二修正余弦相似度SI(Pl₁,Pl₂)来计算BPA相似度。

技术领域

本申请涉及传感器数据传输相关技术，具体来说，涉及基于修正余弦相似度的冲突度量方法及设备。

背景技术

由于传感器在实际的应用环境中通常会受到各种因素的干扰以及传感器自身的问题，从而导致输出的数据常常是不一致甚至相互矛盾。针对高冲突证据的组合问题，现有的众多融合方法忽略了对证据冲突本身的研究。到目前为止，有关衡量证据冲突程度的研究仅发表了少量成果。在新的冲突度量方法中考虑了角度和向量长度等多种因素，可以有效地表整证据之间的冲突程度。可以有效的解决信息融合中存在的问题；

很显然，在对冲突的证据融合之前，准确地判断证据之间是否存在冲突以及合理地度量冲突的大小是一个非常关键的问题。但是，到目前为止尚未有一个统一的测度来表征证据之间的冲突程度。

发明内容

本申请的一个实施例公开了：一种基于修正余弦相似度的冲突度量方法，其包括：将证据1和证据2的基本概率赋值BPA的信任函数和似然函数分别表示成第一信任函数向量Bel₁和第二信任函数向量Bel₂以及第一似然函数向量Pl₁和第二似然函数向Pl₂；计算Bel₁和Bel₂的第一修正余弦相似度SI(Bel₁,Bel₂)以及Pl₁和Pl₂的第二修正余弦相似度SI(Pl₁,Pl₂)；以及基于所述第一修正余弦相似度SI(Bel₁,Bel₂)以及所述第二修正余弦相似度SI(Pl₁,Pl₂)来计算BPA相似度；其中根据下述公式来计算所述修正余弦相似度：

其中A和B是n维向量，A＝[a₁,a₂,L,a_n]且B＝[b₁,b₂,L,b_n]，n为正整数，α-^d是基于距离的相似度，d是向量A和B之间的欧氏距离，α是大于1的常数，min(|A|/|B|,|B|/|A|)是|A|/|B|和|B|/|A|中的最小值，以及si_cos(A,B)是向量A和B的余弦相似度。