[发明专利]一种快速定位存储性能问题的方法及系统有效
| 申请号: | 201910735351.X | 申请日: | 2019-08-09 |
| 公开(公告)号: | CN110471785B | 公开(公告)日: | 2023-04-11 |
| 发明(设计)人: | 孙宇;王炳臣 | 申请(专利权)人: | 北京智睿博信息技术有限公司 |
| 主分类号: | G06F11/07 | 分类号: | G06F11/07;G06F11/34 |
| 代理公司: | 北京华清迪源知识产权代理有限公司 11577 | 代理人: | 盛明星 |
| 地址: | 100000 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 快速 定位 存储 性能 问题 方法 系统 | ||
1.一种快速定位存储性能问题的方法,其特征在于,包括以下步骤:
针对存储磁盘阵列的架构类型,初始化存储性能预览图,其中所述存储性能预览图用于显示所述存储磁盘阵列的存储部件结构;
采集所述存储磁盘阵列中每个存储部件的性能指标;
基于所述性能指标,通过利用率算法计算每个存储部件的利用率;
将所述利用率通过可视化的方式对应到所述存储性能预览图的存储部件中;
所述利用率算法包括:
2.根据权利要求1所述的快速定位存储性能问题的方法,其特征在于,所述存储部件包括前端端口、前端CPU、前端控制器、缓存、后端控制器、后端CPU、后端端口以及后端磁盘。
3.根据权利要求1所述的快速定位存储性能问题的方法,其特征在于,所述将所述利用率通过可视化的方式对应到所述存储性能预览图的存储部件中的步骤,具体包括:将所述利用率通过相应的颜色表示并对应到所述存储性能预览图的存储部件中。
4.一种快速定位存储性能问题的系统,其特征在于,包括:
初始化模块:用于针对存储磁盘阵列的架构类型,初始化存储性能预览图,其中所述存储性能预览图用于显示所述存储磁盘阵列的存储部件结构;
采集模块:用于采集所述存储磁盘阵列中每个存储部件的性能指标;
计算模块:用于基于所述性能指标,通过利用率算法计算每个存储部件的利用率;
可视化模块:用于将所述利用率通过可视化的方式对应到所述存储性能预览图的存储部件中;所述利用率算法包括:
5.根据权利要求4所述的快速定位存储性能问题的系统,其特征在于,所述存储部件包括前端端口、前端CPU、前端控制器、缓存、后端控制器、后端CPU、后端端口以及后端磁盘。
6.根据权利要求4所述的快速定位存储性能问题的系统,其特征在于,所述可视化模块,具体用于将所述利用率通过相应的颜色表示并对应到所述存储性能预览图的存储部件中。
7.一种电子设备,包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述程序时实现如权利要求1至3任一项所述快速定位存储性能问题的方法的步骤。
8.一种非暂态计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,该计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至3任一项所述快速定位存储性能问题的方法的步骤。
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