[发明专利]一种快速定位存储性能问题的方法及系统

说明书

本发明实施例公开了一种快速定位存储性能问题的方法及系统，涉及存储技术领域，该方法包括以下步骤：针对存储磁盘阵列的架构类型，初始化存储性能预览图，其中所述存储性能预览图用于显示所述存储磁盘阵列的存储部件结构；采集所述存储磁盘阵列中每个存储部件的性能指标；基于所述性能指标，通过利用率算法计算每个存储部件的利用率；将所述利用率通过可视化的方式对应到所述存储性能预览图的存储部件中。本发明实施例能将存储磁盘阵列中部件的性能指标进行统一，通过存储性能预览图可以快速有效地了解各个存储部件的性能情况，快速定位存储性能问题，为之后对利用率高的存储部件进行详细分析并出具解决方案从而解决存储性能瓶颈问题提供基础。

技术领域

本发明实施例涉及存储技术领域，具体涉及一种快速定位存储性能问题的方法及系统。

背景技术

随着信息技术的飞速发展，大数据、云、物联网等信息技术产生了前所未有的海量数据，根据IDC预测，到2020年全球数据预计超过40ZB并且数据的增长速度越来越快。存储设备已经并非只是存放数据的容器，其重要程度与日俱增，存储磁盘阵列作为一种存储设备，其健康状态和资源利用情况都会直接影响前端数据的业务系统。在处理存储性能瓶颈的问题时，主要是查看各个部件的性能曲线。

通常存储磁盘阵列的架构是基于控制器数量和连接拓扑划分的，但无论哪种架构，其主要由前端口、缓存、后端口和后端磁盘组成。这些部件需要收集的性能指标主要为IOPS和吞吐量。但往往在实际的运维过程中，这些性能指标很难达到理论上限，其真实的使用情况无法量化地体现，而且每个部件的性能指标单位不统一，没有合理的标准来衡量是否存在性能瓶颈，从而给存储性能问题的定位和分析带来很大挑战。

基于以上的问题，亟需一种新的快速定位存储性能问题的方法及系统的技术方案。

发明内容

为此，本发明实施例提供一种快速定位存储性能问题的方法及系统，以解决现有技术中由于存储磁盘阵列各个部件的性能指标单位不统一而导致不能快速了解和定位存储磁盘阵列存储性能问题的问题。

为了实现上述目的，本发明实施例提供如下技术方案：

根据本发明实施例的第一方面，一种快速定位存储性能问题的方法，包括以下步骤：

针对存储磁盘阵列的架构类型，初始化存储性能预览图，其中所述存储性能预览图用于显示所述存储磁盘阵列的存储部件结构；

采集所述存储磁盘阵列中每个存储部件的性能指标；

基于所述性能指标，通过利用率算法计算每个存储部件的利用率；

将所述利用率通过可视化的方式对应到所述存储性能预览图的存储部件中。

进一步地，所述存储部件包括前端端口、前端CPU、前端控制器、缓存、后端控制器、后端CPU、后端端口以及后端磁盘。

进一步地，所述利用率算法包括：

进一步地，所述将所述利用率通过可视化的方式对应到所述存储性能预览图的存储部件中的步骤，具体包括：将所述利用率通过相应的颜色表示并对应到所述存储性能预览图的存储部件中。

根据本发明实施例的第二方面，一种快速定位存储性能问题的系统，包括：