[发明专利]X-Ray涨缩钻靶分堆作业办法有效
| 申请号: | 201910732452.1 | 申请日: | 2019-08-09 |
| 公开(公告)号: | CN110538809B | 公开(公告)日: | 2021-10-12 |
| 发明(设计)人: | 魏富才 | 申请(专利权)人: | 柏承科技(昆山)股份有限公司 |
| 主分类号: | B07C5/34 | 分类号: | B07C5/34;H05K3/46 |
| 代理公司: | 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350 | 代理人: | 汤东凤 |
| 地址: | 215000 江苏省苏州*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | ray 涨缩钻靶分堆 作业 办法 | ||
1.一种X-Ray涨缩钻靶分堆作业办法,其特征在于步骤包括:
①料号建立:对需要加工的一个批次的产品进行料号排序;
②中心钻靶:直接按照标准中心值对PCB板进行钻靶加工并按照料号统计靶位的X值和Y值;
③剔除最差值靶位:在步骤①中得到的所有料号中去除靶位X顺序、X逆序、Y顺序、Y逆序的n个数据;
④确定第一中心点:对去除最差值靶位的其他靶位进行X和Y的中心值试算,确定第一中心点的坐标;
⑤分堆:人为定义三个X偏移量X1、X2、X3和三个Y偏移量Y1、Y2、Y3,且X1<X2<X3,Y1<Y2<Y3,以第一中心点O为原点,定义|X|<X1且|Y|<Y1为A区,|X|<X2、|Y|<Y2且不在A区以内的部分为B区,|X|<X3、|Y|<Y3且位于B区以外的部分为C区,|X|>X3或|Y|>Y3为D区,B区被四个象限分为B1区、B2区、B3区和B4区,C区被四个象限分为C1区、C2区、C3区和C4区,其中靶位落在D区则归类为不良,其余判定为合格;
⑥确定其他中心点:对B1区、B2区、B3区、B4区、C1区、C2区、C3区和C4区内的靶位群组分别计算出各自的中心点坐标;
⑦转下流程:对不同靶位群组的产品按照各自的中心点坐标进行后续处理。
2.根据权利要求1所述的X-Ray涨缩钻靶分堆作业办法,其特征在于:所述步骤③的剔除以产品数m为基准进行人为指定。
3.根据权利要求2所述的X-Ray涨缩钻靶分堆作业办法,其特征在于:当m>120时,n=5;当120≥m≥100时,n=4;当100≥m>80,n=3;当80≥m>8,n=2;当m≤8,n=1。
4.根据权利要求1所述的X-Ray涨缩钻靶分堆作业办法,其特征在于:所述步骤④第一中心点的位置根据所得X和Y的中心值进行人为指定。
5.根据权利要求1所述的X-Ray涨缩钻靶分堆作业办法,其特征在于:所述B1区、B2区、B3区、B4区、C1区、C2区、C3区或C4区中不存在靶位的则免去分堆和中心点计算。
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