[发明专利]故障冗余电路

说明书

本发明公开了一种故障冗余电路。一种冗余电路包括选择控制信号发生电路和列控制电路。当锁存地址信号的逻辑电平与熔丝信号的逻辑电平不同时，选择控制信号发生电路驱动被初始化的内部节点以产生选择控制信号。列控制电路基于选择控制信号来缓冲预列选择信号，以产生用于执行单元的列操作的列选择信号或者产生用于执行冗余单元的列操作的冗余列选择信号。

相关申请的交叉引用

本申请要求于2019年3月5日提交的申请号为10-2019-0025322的韩国专利申请的优先权，其全部内容通过引用合并于此。

技术领域

本公开的实施例涉及使用熔丝信号的故障冗余电路。

背景技术

半导体器件可以将用于访问有缺陷单元的地址信息储存到熔丝组中，并且可以在有缺陷单元被选中时通过用冗余单元替换有缺陷单元来修复有缺陷单元。

发明内容

根据一个实施例，一种冗余电路包括选择控制信号发生电路和列控制电路。当锁存地址信号的逻辑电平与熔丝信号的逻辑电平不同时，选择控制信号发生电路驱动被初始化的内部节点以产生选择控制信号。列控制电路基于选择控制信号来缓冲预列选择信号，以产生用于执行单元的列操作的列选择信号或者产生用于执行冗余单元的列操作的冗余列选择信号。

根据另一实施例，一种冗余电路包括：比较电路，其被配置为基于使能脉冲和预充电信号来将锁存地址信号与熔丝信号进行比较以产生比较信号；内部节点驱动电路，其被配置为基于比较信号来驱动内部节点；选择控制信号输出电路，其被配置为缓冲内部节点的信号以输出内部节点的信号的缓冲信号作为选择控制信号；以及列控制电路，其被配置为基于选择控制信号来缓冲预列选择信号，以产生用于执行单元的列操作的列选择信号或者产生用于执行冗余单元的列操作的冗余列选择信号。

附图说明

图1是示出根据本公开的一个实施例的冗余电路的配置的框图。

图2是示出图1的冗余电路中所包括的地址锁存电路的示例的电路图。

图3是示出图1的冗余电路中所包括的预充电信号发生电路的示例的电路图。

图4是示出图1的冗余电路中所包括的选择控制信号发生电路的示例的电路图。

图5是示出图4的选择控制信号发生电路中所包括的第一比较器的示例的电路图。

图6是示出图1的冗余电路中所包括的列控制电路的示例的电路图。

图7是示出采用图1中所示的冗余电路的电子系统的配置的框图。

具体实施方式

在下文中参考附图来描述本公开的各种实施例。然而，所描述的实施例仅用于说明目的，并不旨在限制本公开的范围。

如图1中所示，根据一个实施例的冗余电路1可以包括地址锁存电路11、熔丝信号发生电路12、预充电信号发生电路13、选择控制信号发生电路14、列控制电路15和列操作电路16。

地址锁存电路11可以基于地址锁存脉冲ALATP来锁存第一地址信号至第八地址信号ADD1:8，并且可以输出第一地址信号至第八地址信号ADD1:8的锁存信号作为第一锁存地址信号至第八锁存地址信号LA1:8。当执行列操作时，用于地址锁存电路11的地址锁存脉冲ALATP可以被产生，以接收用于访问由列操作激活的单元的第一地址信号至第八地址信号ADD1:8。可以执行列操作以选择用于接收或输出数据的数据路径。地址锁存电路11被实现为锁存地址信号，所述锁存地址信号的比特位的数量可以根据实施例而被设置为不同。下面参考图2详细地描述地址锁存电路11的配置和操作。