[发明专利]一种X射线探测器及其制备方法

说明书

本发明公开了一种X射线探测器，包括基材和至少两个闪烁体阵列，至少两个所述闪烁体阵列层叠于所述基材上，每个所述闪烁体阵列均包括从下至上依次层叠设置的第一感光层、闪烁体层和第二感光层。设于闪烁体层两侧的第一感光层和第二感光层通过各自独立耦合和采样，在低辐射剂量的单次曝光条件下，同时提高了空间分辨率和荧光吸收率，优化辐射剂量和信噪比，然后合成优质的多能图像，具有减少由于曝光时间长导致的运动伪影和成像效果好的优势。

技术领域

本发明涉及探测器设备技术领域，尤其涉及一种X射线探测器。

背景技术

多能探测广泛应用于无损检测中需要对内部材料进行区分的领域，如骨密度测量、安全检测、集装箱检测等。通过对比高能X射线的透射图像和低能X射线的透射图像之间的差异即可区别被测物质内部的密度差异。多能X射线探测器是系统的核心部件。

在探测区域内至少需要两种不同的X射线探测器件，一种用于探测低能X射线，另一种用于探测高能X射线，同时X射线探测器件具有面阵化结构以输出透射图像。多层探测器可以选择半导体或者闪烁体或者半导体和闪烁体的组合作为吸收材料。公开技术中，多层半导体探测器，即多层直接探测器，如多层非晶硒，往往制造晶体成本高，工艺复杂，并且工作物理环境严苛，需要在额定的温湿度范围内工作，寿命短，容易老化，有效能谱范围较小，难于分辨高密度物质差异。

而对于多层闪烁体探测器，多能X射线依次穿过多层闪烁体在多层闪烁体中独立产生强度不同的荧光，荧光由与闪烁体耦合的感光面阵探测器成像。由于闪烁体发出荧光的发射方向有各向同性的特点，且探测高能X射线的闪烁体较厚，图像的空间分辨率会因荧光在连续晶体中的发散而产生退化。因此上述的现有探测器成像效果并不理想。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是：提供一种能够优化图像质量的X射线探测器。

为了解决上述技术问题，本发明采用的技术方案为：一种X射线探测器，包括基材和至少两个闪烁体阵列，至少两个所述闪烁体阵列层叠于所述基材上，每个所述闪烁体阵列均包括从下至上依次层叠设置的第一感光层、闪烁体层和第二感光层。

本发明的有益效果在于：设于闪烁体层两侧的第一感光层和第二感光层通过各自独立耦合和采样，然后合成优质的多能图像，具有低剂量成像、吸收效率高同时分辨率高、减少由于曝光时间长导致的运动伪影、成像效果好、能够分辨物质和保留图像细节的优势，能应用在DR，乳腺机，血管造影仪和C型臂等X射线相关设备。

附图说明

图1为本发明实施例一的X射线探测器的结构示意图；

图2为本发明实施例一的另一种X射线探测器的结构示意图；

图3为本发明实施例一的X射线探测器制备流程图。

标号说明：

1、基材；

2、闪烁体阵列；

21、第一感光层；

22、闪烁体层；

23、第二感光层；

3、滤过层；

4、中间衬底。

具体实施方式

为详细说明本发明的技术内容、所实现目的及效果，以下结合实施方式并配合附图予以说明。

本发明最关键的构思在于：第一感光层和第二感光层通过各自独立耦合和采样，在低辐射剂量的单次曝光条件下，同时提高了空间分辨率和荧光吸收率，优化辐射剂量和信噪比，然后合成优质的多能图像，合成的图像具有减少由于曝光时间长导致的运动伪影的优点。